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EVMC6678 调试nanflash时出现bad block(坏块问题),急急。。。。。。。。。



各位TI工程师

   你们好,我在评估板evmc6678 调试flash,本来是用MSDK 提供写nandwrite程序去固话闪灯程序到flash中,发现一直出现有坏块的错误,Console 串口打印如下的信息: Bad blco # 1 detected , skipping block ....

                                    ................

                Bad blco # x detected , skipping block ....

                         ........................

               Bad blco # 4095 detected , skipping block ....一直到4095块全出现块错误!这里说明下,之前,板子的flash是ok的,可以固话成功;但后来,板子的SBW-MMC1电源接插件短路过,导致板子某处烧过,好像是2个稳压管烧了,后来换了,正常,那么问下,是否由于这个原因,影响到其他电路,导致的问题?

之后我也做了如下的尝试

1.检测了1.8v,正常;

1.换了同型号的nandflash芯片,任然一样,程序检测出都是坏块!

我想问如下的问题:

1.我单步调试,nandflash可以初始化成功,能否说明flash芯片读写是ok的?

2.我换了芯片,任然是坏块错误,全都是,是不是nand芯片是假的,有问题?

3.能给条思路,继续调试,现在不知如何处理?