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TMD6678SEVM评估板SRIO闭环测试问题

Yusheng Li
Prodigy 70 points


各位专家好！

能否利用自检程序cifae_KI_STK_Deyi中的SRIO范例程序，实现TMD6678SEVM评估板SRIO的外部闭环自检。

将程序中测试模式修改为SRIO_EXTERNAL_LINE_LOOPBACK，并将评估板上的SRIO收发接口互连（port0的收发对接，port1的收发对接，port2的收发对接，port3的收发对接）。程序加载运行后反复状态查询（gpSRIO_regs->RIO_SP[i].RIO_SP_ERR_STAT）。

试问是否可以进行这样的自检功能。若可以，操作步骤应该如何？

谢谢！

  • 0
    TI__Guru 61135 points

    external line loopback需要两个device连接测试，EVM6678上只有一个DSP，不能进行这样的测试。

  • 0 回复 Andy Yin
    Prodigy 70 points

    感谢Andy Yin1的解答。

    那是否意味着现有的程序不能支持“SRIO输出输出端口信号短接”的测试方法呢？

    我查阅了PDK中相关内容，在tput_benchmarking文件下有word文档，其中提到这种测试方法，如下图所示：

    在提供的范例程序中如果采用“core to core, external loopback”，就可以实现。

    文档中提到的方法是否可行？

    还有一点疑问：利用外部线短接收发信号的环境中，为什么要在不同的核上实现自发自收？单核是否也可以实现SRIO的自发自收测试？

    谢谢！

  • 0 回复 Yusheng Li
    TI__Guru 61135 points

    你列的PDK中的方法，是需要用AMC板卡将两个EVM板进行对接测试，这样肯定是可以实现external line loopback的。一个dsp只能测internal loopback及serdes loopback，SRIO各种mode参考如下编程说明文档：

    http://www.deyisupport.com/question_answer/dsp_arm/c6000_multicore/f/53/t/22287.aspx

    你说的输入输出短接是将不同两个port的输入输出短接么，这么我们没测过。对应一个DSP而言，直接侧internal serdes loopback就可以了。

  • 0 回复 Andy Yin
    Prodigy 70 points

    我希望能够SRIO实现的自发自收测试，即SRIO0的发送端口与SRIO0的接收端口短接，SRIO1的发送端口与SRIO1的接收端口短接，SRIO2的发送端口与SRIO2的接收端口短接，SRIO3的发送端口与SRIO3的接收端口短接。不知道这样的测试利用一个EVM单板是否可以实现。

    PDK中的方法C-E-C可以实现，这两天我会将测试结果告诉大家。

    在此感谢你的帮助，你所提到的帖子，我已经下载仔细研究，呵呵。

    非常感谢。