AFE7950: 60×AFE7950多通道射频直采数采测试系统(8.5–10.5 GHz)时钟同步与校准方案问询

Part Number: AFE7950
Other Parts Discussed in Thread: LMK04832, LMK04828-EP, LMK04828

TI团队,您好:

我们正在设计一套多通道射频直采数据采集与测试系统,工作频率8.5–10.5 GHz,希望就全套TI方案的时钟同步与相位校准策略获得建议。

系统概况:

  • 12块电路板,每块板5颗AFE7950(每板20发20收通道);全系统共60颗AFE7950(240发 / 240收 / 120反馈)
  • AFE7950使用内部PLL,由全系统共用的单颗100MHz TCXO生成约12GSPS的DAC采样时钟(不做外部12GHz时钟分发)
  • 两级时钟树:1颗根级时钟器件(LMK04828-EP或LMK04832)→ 12颗板级时钟器件,每颗向本板5颗AFE7950+本地FPGA分发成对的REFCLK+SYSREF
  • 全部数据链路采用JESD204B/C Subclass 1;12块板的FPGA由中央时序控制器统一协调
  • 所有通道要求相位相干,且上电周期间相位可重复

具体问题:

  • 时钟拓扑: 对于60颗AFE7950在上电周期间要求确定性相位重复的场景,两级时钟树(1根级+12板级,如LMK04828-EP)是否推荐?是否有更优的替代结构?
  • SYSREF: 推荐采用什么SYSREF频率和生成方式(我们正评估12.5MHz或6.25MHz;连续脉冲还是N脉冲)?SYSREF应该在根级生成后分发,还是在每块板本地生成?
  • 确定性相位: 每颗AFE7950由共用的100MHz参考经内部PLL生成约12GHz采样时钟,仅靠Subclass 1的SYSREF对齐是否足以保证上电周期间器件间相位可重复?是否还需要额外步骤?
  • 校准: 对于该频段的相位相多多通道采集系统,TI推荐的RX公共Pilot校准和TX反馈通道(FB)校准方法是怎样的(NCO相位/延时表补偿)?如何在温度变化下维持校准精度?
  • 参考噪声预算: 100MHz倍频至约12GHz(倍频比约120,PLL环路带宽内理论相位噪声恶化约41.6dB),TI建议的参考相位噪声/抖动指标是多少?根级是否应采用抖动清洁器(LMK04828 PLL模式)而非纯分配器?

如有多AFE7950同步系统的参考设计、EVM指南或应用笔记,将不胜感激。

此致