TI您好,
因目前應用需較為高靈敏的應用, 故溫度對於量測上的偏移尤其重要
基於之前版上人的經驗, LDC1614EVM量測上有時會有baseline shift 現象, 可能原因來自於
(1) 溫度對電容上的影響: TI建議選TDK C0G/NP0的電容器件具有低temperature coefficient is within 0±30ppm/°C, 目前上還有其他更推薦的器件嗎?
(2) 溫度對振動器上的影響: 請問這目前有最新解決方案嗎?
(3) 溫度對於線圈上的影響: 請問這目前有最新解決方案嗎?
e2e.ti.com/.../ldc1614-at-high-temperature
最近也搜尋到TI一篇分享文關於使用其他Channel (例如Channel 1)作為量測上參考值, Channel 0 為實際量測物體之通道 (如上連結)。
原理是因為兩個通道線圈都承受周圍相同的溫度, 即參考傳感器(Channel 1)與測量傳感器(Channel 0)相同的溫度漂移，因此可利用兩者相減, 藉此用於消除溫度漂移。
但問題來了, 在相同溫度情況下, 我使用LDC1614EVM 量測baseline, channel 0, channel 1 基準值原本就不一樣...(會是LDC1614EVM Channel 0, Channel 1 Sample coil上的 C0G/NP0電容器之個體差異導致?)
若是如此, 如何使用background substration 進行補度補償的問題?
謝謝
