FDC2212: 测量电容过程中，数据出现突然跳变

您好，

您使用的 Sensor plate和 Target object 是什么? 在传感器和设备输入引脚之间的信号路径上 可能遭到了环境干扰影响了电容测量，环境干扰源包括人的手、辐射的电磁信号和来自其他电子设备的噪声。因为 FDC2212 不带 shield 管脚，可使用下面2种方法进行屏蔽：

在测试的过程中，直接使用手触摸IN0A通道对外接口，电容值会变化，但是手离开后，电容值不会恢复原来的值。重新初始化一次芯片，电容值恢复到手接触前的电容。

测试时的数据如上所示

手没有再次接触芯片，只是使用内部时钟，让它再次初始化芯片，就出现了该现象

也就是说开始您是使用的外部时钟，后来又改为使用内部时钟，那么您使用的外部时钟频率是否与内部时钟频率一样？如果不一样的话，您是否从新确认了内部时钟频率是否符合现有的时钟和寄存器配置？因为内核使用参考频率（fREF）测量传感器频率，fREF来自这个内部时钟或外部提供的时钟。