IWR1443BOOST: 使用DCA1000EVM采集原始数据

我查找资料后发现，是不是需要有一个“校正”的步骤我没有做？那该如何进行“校正”呢？

你好，

建议你在微博暗室使用角反进行测试。你的测试环境干扰比较大。

你好，那请问，使用DCA1000EVM采集数据时，该怎么进行“校准”的操作呢？我看指导文档中，mmwave studio2.1.1.0中的CalibConfig好像是可以进行设置的？但是我不知道该怎么进行“校准”，具体要怎么设置或需要哪些操作？

你好，

你说的这个校准是芯片的自校准，包括始校准和run time校准。rfinit的时候就会做初始校准。除非你要修改初始校准的参数，你才需要配置上面的这个界面。

关于自校准，请参考下面的文档：

你好，

也就是说TI雷达设备自身就有TI公司设定好的校准程序，设备在启动后本身就会自动进行自校准？无需额外配置？

因为我只是需要使用IWR1443BOOST+DCA1000EVM获取ADC数据，不需要再在TI的设备进行其他的开发。

我使用mmwave studio2.1.1.0在配置好chirp和frame后，触发设备进行数据获取，设备本身就会在采集过程中进行TI公司预先设置好的校准程序，自动定时进行校准，无需我再进行额外的配置？CalibConfig界面中的选项如果我没有其他开发或者项目的话没多大意义，是这个意思吗？

我看了你发的这个文档，我大概的理解是，里边说的那些校准好像都是可以通过相关的API进行配置或调整，但是我只是用来获取ADC数据，也不需要做其他的开发，软件也只是用到mmwave studio，所以这些都是用不到的是这样吗？

你好，

自校准针对的是TI的毫米波芯片。用户可以定义自校准的功能里面的功能是否使能。

对于毫米波板子（系统）还需要有相关校准。mmwavce sdk里的mmw demo有相关参考信息：

/mmwave_sdk_02_01_00_04/packages/ti/demo/xwr14xx/mmw/docs/doxygen/html/index.html

Range Bias and Rx Channel Gain/Offset Measurement and Compensation

你好，很感谢你提供的文档，对我很有帮助。

但是，我尝试了在使用校准和没有使用校准的情况使用雷达对同一个静止的目标进行测试并由DCA1000evm捕获数据，全部过程在mmwave studio上完成。

可是结果显示二者的数据区别并不大，校准的改善不明显。

下面两张图是在两种情况下捕获目标的相位随frame的情况。这里我每frame由1chirp构成，1chirp为65us，1frame为1ms，共采了20000frame。

为什么会这样？

就是一般的房间里，用一个钢制的水瓶测量的数据。没有暗室环境。

你好，

我之前已经回复过，不在暗室里的环境干扰比较大的。而且水瓶是个弧形，雷达检查到的目标电也可能是不同的地方，建议使用角反。所以你目前的数据参考意义有限。

你好，

我这边没有那种专业的角反射器，能否用别的东西代替，例如金属板之类，能否达到相近的效果呢？

另外，关于使用校准后的frame时间的设置，有没有较详细信息的文档，关于使能各种类型的校准后需要预留多少时间

你好，

抱歉，我的建议还是暗室+角反。如果你要做专业的研究，请内部申请一下专业的环境和设备。

kelong zeng 说：

另外，关于使用校准后的frame时间的设置，有没有较详细信息的文档，关于使能各种类型的校准后需要预留多少时间

请问你是否有看过我之前提到的校准的文档，是否有尝试? 校准是一次性的工作。

文档中并未提及关于如何计算预留时间，详细的内容在另外的文档，你能提供给我它这里提到的文档吗？

你好，

请问你是想知道RFinit时候校准需要花的时间么？如果是，你可以自行测量相关时间。

校准分为自校准和系统校准，请下次提问的时候可以说的更清楚些。

mmwave DFP可以在TI官网下载：

MMWAVE-DFP 固件 | TI.com.cn

你好，

我的意思是，如果我使能了校准，如runtime calibration，势必需要在frame periodicity配置时为其预留足够的时间