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量产测试时，需要雷达产品内的固件和PC端工具软件配合进行吗？
ti有做好的，可用于相关量产测试的固件和PC端工具吗？
该文档“TI 毫米波雷达器件中的自校准功能 (Rev. B)-zhcaai6b”，与量产测试有什么关系吗？
你好，
请参考下面的文档：
mmWave Production Testing Overview
Hi Chris Meng
谢谢回复。
文档中提到的一些操作，在AOP封装芯片上不知道如何进行确认。
比如，1.2.1 Antenna Beam Tilt Measurement，
The target (corner reflector) is kept at a distance so that it generates an IF of around 1 MHz.
ADC output from all receiver chains are simultaneously captured and processed to measure the signal strength.
IWR6843AOP（AOP封装），射频回路全部集成在芯片内部，
如何确认IF信号频率？如何捕捉ADC输出？
中频信号在芯片内部是无法测量和获得的。中频采样后的ADC数据在毫米波芯片里面是可以获得的。
即使是AOP芯片，也是需要做Range Bias and Rx Channel Gain/Offset 校准的，方法和外置天线的一致。
你好！
我对于该测试文档的内容，还是不太清楚，想再问一下。
文档中提到以下3个项目：
①1.2.1 Antenna Beam Tilt Measurement
②1.2.2 Range Bias and Receiver Channel Gain/Offset Compensation
③1.3.1 Transmitter-Receiver Loopback SNR
对于AOP芯片，都需要做吗？设计阶段做就行？还是量产中对每个产品都需要做？
如何获得所有接收器链的（中频采样后）ADC数据？
如何为每个接收器测量对应于目标的 FFT 信号的 SNR？(1.3.1)
GRx, GTx，都等于5dbi吗？
目标物体（角反射器）的RCS如何计算？
有效噪声温度是多少？
不好意思，问题比较多，麻烦了。
user5309454 说：对于AOP芯片，都需要做吗？设计阶段做就行？还是量产中对每个产品都需要做？
Antenna Beam Tilt Measurement不需要，其他需要。量产中每个产品都要做。设计阶段看性能的话也要做。
user5309454 说：如何获得所有接收器链的（中频采样后）ADC数据？
可以使用mmwave studio。
user5309454 说：目标物体（角反射器）的RCS如何计算？
请网上搜索一下。
user5309454 说：如何为每个接收器测量对应于目标的 FFT 信号的 SNR？(1.3.1) GRx, GTx，都等于5dbi吗？ 目标物体（角反射器）的RCS如何计算？ 有效噪声温度是多少？
如果你对毫米波本身不是很熟悉，建议使用 Golden Sensor Unit的方法。你可使用mmw sdk里的mmw demo查看角反的信号能量和golden board做对比。
对于你的问题，你可以参考下面的论坛讨论：https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1159477/awr2243-equation-inquiry-explanation
