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RE: IWR6843AOP: 生产测试相关咨询

Other Parts Discussed in Thread: IWR6843AOP

量产测试时,需要雷达产品内的固件和PC端工具软件配合进行吗?

ti有做好的,可用于相关量产测试的固件和PC端工具吗?

该文档“TI 毫米波雷达器件中的自校准功能 (Rev. B)-zhcaai6b”,与量产测试有什么关系吗?

  • Hi Chris Meng

    谢谢回复。

    文档中提到的一些操作,在AOP封装芯片上不知道如何进行确认。

    比如,1.2.1 Antenna Beam Tilt Measurement,

    The target (corner reflector) is kept at a distance so that it generates an IF of around 1 MHz.

    ADC output from all receiver chains are simultaneously captured and processed to measure the signal strength.

    IWR6843AOP(AOP封装),射频回路全部集成在芯片内部,

    如何确认IF信号频率?如何捕捉ADC输出?

  • 你好,

    中频信号在芯片内部是无法测量和获得的。中频采样后的ADC数据在毫米波芯片里面是可以获得的。

    即使是AOP芯片,也是需要做Range Bias and Rx Channel Gain/Offset 校准的,方法和外置天线的一致。

  • 你好!

    谢谢回复。

    我对于该测试文档的内容,还是不太清楚,想再问一下。

    文档中提到以下3个项目:

    ①1.2.1 Antenna Beam Tilt Measurement

    ②1.2.2 Range Bias and Receiver Channel Gain/Offset Compensation

    ③1.3.1 Transmitter-Receiver Loopback SNR

    对于AOP芯片,都需要做吗?设计阶段做就行?还是量产中对每个产品都需要做?

    如何获得所有接收器链的(中频采样后)ADC数据?

    如何为每个接收器测量对应于目标的 FFT 信号的 SNR?(1.3.1)

    GRx, GTx,都等于5dbi吗?

    目标物体(角反射器)的RCS如何计算?

    有效噪声温度是多少?

    不好意思,问题比较多,麻烦了。

  • 对于AOP芯片,都需要做吗?设计阶段做就行?还是量产中对每个产品都需要做?

    Antenna Beam Tilt Measurement不需要,其他需要。量产中每个产品都要做。设计阶段看性能的话也要做。

    如何获得所有接收器链的(中频采样后)ADC数据?

    可以使用mmwave studio。

    目标物体(角反射器)的RCS如何计算?

    请网上搜索一下。

    如何为每个接收器测量对应于目标的 FFT 信号的 SNR?(1.3.1)

    GRx, GTx,都等于5dbi吗?

    目标物体(角反射器)的RCS如何计算?

    有效噪声温度是多少?

    如果你对毫米波本身不是很熟悉,建议使用 Golden Sensor Unit的方法。你可使用mmw sdk里的mmw demo查看角反的信号能量和golden board做对比。

    对于你的问题,你可以参考下面的论坛讨论:
    https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1159477/awr2243-equation-inquiry-explanation