This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

IWR1642BOOST: 使用mmWaveStudio,同一位置不同SampleRate设置,Studio解析出来的距离不同

Part Number: IWR1642BOOST


您好,我最近使用mmWaveStudio,遇到了一些问题。

1.我在开发板位置不变化的情况下,更改了不同的SampleRate数值,其他参数均采用Studio默认参数,似乎SampleRate数值的不同会导致studio解析出来的数据不同,见下图,请问这是为何?

2.我将反射器放置于开发板正前方,并使用卷积量测天线至反射器的距离。当我将开发板置于反射器正前方不同位置时,我需要多次尝试更改SampleRate的数值,才可以在不同位置较为精确的采集到正确的距离。也就是不同位置需要设置不同的SampleRate数值,才可以比较正确的得到两者之间的距离,请问这是为何,或者距离和SampleRate之间存在着某些关系,能否告知?