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你好!!!
我在调试我设计的 LDC1101测试板 时,出现了一个问题。
进行 Rp-L测量时,在设置完成 LDC1101 相应寄存器后,LDC1101能够正常工作,可以读取测量数据(测量数据是正确的)。但是经过一段时间(马上出现或者几秒,甚至几分钟)之后,LDC1101出现异常,读取任何寄存器的值都为0XFF(包括CHIP_ID寄存器)。
但是如果我配置LDC1101只进行电感测量(LHR Mode)时,就不会出现这种情况。
这个问题使我感到很疑惑!!!希望能够得到解决。
谢谢!!!
你好!!!
我换了一个新的LDC1101之后,经过一段时间的测试,没有出现上述异常。
但是我还是想知道,为什么在Rp-L测量的时候,会出现异常呢?会不会是我焊接的时候的高温,导致芯片出现了可能会出现异常。还是说这是这个芯片自身的故障问题。
最重要的是,这个异常为什么会出现。我配置LHR Mode的时候,就不会出现这种情况,但是RP-L Mode的时候,就会出现异常。
(一般会正常输出一段时间,如果收到外部干扰,异常就会出现,比如:重启芯片之后,手靠近线圈,稍微改变一下线圈的状态,那么异常就会出现,这时芯片无法正常读写,除非重启。)
您好,
看下面RP+L模式下的工作原理: 在RP+L模式下,LDC1101将同时测量传感器的阻抗和谐振频率。设备将通过将闭环配置中的振荡幅度调节到恒定水平来完成这一任务,同时监测谐振器消耗的能量。通过监测注入谐振器的功率量,LDC1101设备可以确定RP的值。
我想可能是有干扰影响了闭环中的振荡幅度,使得传感器幅度超出了有效操作区域,使得LDC1101可能无法有效地驱动传感器。
进入异常时,您是否可以测量传感器的振荡幅值?看是否存在异常?
另外,也请检测是否正确设置了RP_MIN和RP_MAX参数?