如题，特定位置出现的目标峰值是不正确的，想知道该问题出现的原因是什么？
该板子使用AWR1843AOP等芯片自制
使用两种供电来源进行测试 ①桌面电源 ②锂电池+充放电模块
使用①进行供电验证测试等工作，Figure1为上扫频，Figure2为下扫频，与实际测试环境相符，为正常的情况。
使用②进行供电测试，Figure3为上扫频，Figure4为下扫频，该情况与实际环境不符，所以不正常。
将使用②方式进行供电的板子取下，使用①进行供电，数据依旧为Figure3为上扫频，Figure4为下扫频。
②锂电池+充放电模块的供电，有电压跳动的情况，5V每间隔200ms变为4.5V，
使用三套板卡使用同一套程序，使用过②供电的两个板子，均在该位置存在峰值，板子1使用②供电时间较长，情况如Figure3/4 ，板子2使用②供电时间较短，如Figure3/4 ，只是峰值较小。
未使用②供电的板卡3如Figure1/2情况一样。
现在使用过②方式供电的板卡，无论在①或②供电下，都是Figure3/4 的情况，成为不可逆，好似造成了硬件损伤。想知道造成该情况的原因是什么？
