您好，我在测试TMAG5273这款传感器的时候遇到了CRC校验失败的问题，
传感器配置为：
0x00寄存器配置为0x81，启用CRC并设置为16bit读取；
0x01寄存器配置为0x02，设置为连续测量模式；
0x02寄存器配置为0x40，设置测量z轴磁场；
其余寄存器默认。
I2C读取4字节，串口打印输出如下
[0;32mI (6512) soft_i2c_master: received byte 0x00,0x00,0x31,0xa3
[0;32mI (6522) soft_i2c_master: received byte 0x00,0x20,0xf1,0x43
[0;32mI (6522) soft_i2c_master: received byte 0x00,0x00,0xd1,0x0d
[0;32mI (6532) soft_i2c_master: received byte 0x00,0x00,0x91,0xca
[0;32mI (6542) soft_i2c_master: received byte 0x00,0x00,0x51,0x84
[0;32mI (6542) soft_i2c_master: received byte 0x00,0x00,0x11,0x43
前二位为z轴磁场值，第三位为状态值，第四位为CRC值。使用TI官方的CRC校验代码（使用改代码测试过数据手册中的参考值，输出正确），但CRC校验失败。在此前我查找了论坛中的相关问题，发现论坛中曾提到了需要计算CRC时需要加入命令字节数据，加入过后校验依旧失败。请问有什么可能得原因会导致这中现象？
