TMUX1134: 延时问题

您好，

您是使用双电源供电吗？您可以附上您测量使用的电路图吗？因为看您的描述，并不能知道具体的测量点是在电路的哪里

您好，电源供电我使用了±2.5V的供电

电路图如下，测量了芯片的17-20引脚，17和19引脚（S42_A和S42_B）为单刀双掷开关的输入，18引脚(S42)为切换完成后开关的输出，20引脚(S42_Ctrl)是控制信号

我在20引脚(S42_Ctrl)接入了500K的1.8Vpp的控制信号，来测试芯片的切换时间

示波器图1是用探针测试了20引脚(S42_Ctrl)，测试芯片上的时钟信号，该时钟信号质量尚可

示波器图2和图3是用探针测试了18引脚(S42)，分别测试芯片上未接负载时的输出信号和芯片上接200欧姆负载时的输出信号，测试结果上升下降沿很不理想

想确认的几个问题：

1.我的测试方法是否正确，标准的测试方法是什么样的？     

2.芯片这样的性能表现是否正常？

3.是否需要某些特别的设计（布局布线之类）才能达到芯片数据手册中的性能指标？

首先，我不明白您具体要测芯片的哪个切换时间？还是说要测“芯片输出的电压信号质量”

您提出的性能指标具体指哪个性能指标，可以给出数据手册中的截图吗？

然后，我也不明白示波器中的波形具体是哪个测量点的波形：

“测量点为FPGA输出时钟信号的排针”

“测量点为光开关实际放置位置的排母”

如果您要测量 TMUX1134的性能，我认为您应该给出施加在TMUX1134输入管脚处的信号波形，而不是电路其他地方的波形，因为电路其他地方的波形并不能代表TMUX芯片输入管脚处的波形质量。

芯片输出波形与信号走线长度和外接负载都有关系，信号走线越长，PCB迹线产生的杂散电容就越大，形成的延迟就越大，负载电阻越大，同理延迟也越大。

我想测量的是 TMUX1134 芯片数据手册11页 Enable turn-on time 和 Enable turn-off time 这两个指标，即开关开启和关断的时间

“测量点为FPGA输出时钟信号的排针”测量的是由FPGA输出的时钟信号，连接到芯片的控制信号20引脚(S42_Ctrl)

“测量点为光开关实际放置位置的排母”测量的是电路最终需要使用模拟开关切换完成后信号的负载

这两个点信号确实是电路其他地方的波形，测量的作用是与芯片引脚上信号进行对比

示波器图1的通道3（橙色）为芯片S42_Ctrl（20引脚）接收到的时钟信号，是芯片输入管脚处的信号波形（用探针测量得到）

示波器图2和图3的通道3（橙色）为模拟开关芯片切换完成后输出的信号18引脚(S42)，是芯片输出管脚处的信号波形（用探针测量得到），分别对应芯片未接负载时的输出信号和芯片接200欧姆负载时的输出信号

通过探针测试芯片上各个管脚的信号（探针直接与芯片管脚接触），发现延时达到300ns，与数据手册中的12ns/6ns相差很远

那这300ns的上升下降沿是否正常呢？

芯片数据手册中的性能指标是通过怎么样的方式测试得到的呢？

我需要尽量达到和数据手册中一致的性能，除了走线短还需要注意些什么？