该芯片的Ron规格书在VCC=2.3V，VI=1.7V，IO=-15mA，Ron＜9Ω，实际测试AB端使用直流源及负载仪带载15mA电流，Ron实际测试有33Ω及带载不了的情况、是测试方法问题么。
还有Ioff电流，VI=0.VO=0-5.5V，规格书为1uA 最大，实际在VO使用直流源正极加电压在B，A端接直流源负极，VCC=0。中间电流有0.7mA左右，是测试方法问题么。
该芯片的Ron规格书在VCC=2.3V，VI=1.7V，IO=-15mA，Ron＜9Ω，实际测试AB端使用直流源及负载仪带载15mA电流，Ron实际测试有33Ω及带载不了的情况、是测试方法问题么。
还有Ioff电流，VI=0.VO=0-5.5V，规格书为1uA 最大，实际在VO使用直流源正极加电压在B，A端接直流源负极，VCC=0。中间电流有0.7mA左右，是测试方法问题么。
您好，
导通电阻Ron的定义如下截图；我不建议您用负载仪产生15mA电流，建议使用纯电阻产生；如若测试电阻还很高，建议您附上测试电路原理图再具体分析下；
Ioff是VCC = 0, VO = 0 to 5.5 V, VI = 0条件下，设备处于关断时输入端流过开关的电流；测量时，应该是OE接高电平，VCC接地，输入接地，输出接 0 to 5.5 V时，流过开关的电流；如若测试电流还很高，也建议您附上测试电路原理图再具体分析下；