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您好：
我司测试产品是出现内阻大异常现象，分析过程中进行验证测试MOS打开能力时，测试发现MOS打开后出现压降现象，且直接降到0值，导致MOS不能正常打开，请问是什么原因导致的会出现压降问题呢？
感谢您对TI产品的关注！为更加有效地解决您的问题，我们建议您将问题发布在E2E英文技术论坛上（ https://e2e.ti.com/p/addpost ).
