1.我现在再进行CC2540的BLE性能测试,我没有找到TI官方的测试数据,TI官方有没有CC2540的RF的测试数据,频偏 灵敏度 功率之类的
2.我在测试中发现initial Freq Drift=-26.8KHz,有点偏高,这可能是什么原因,也是晶振的匹配电容引起的吗
3.我看到BLE的灵敏度测试参数是PER,标准为30.8%,这个丢包率为什么可以允许这么高?BLE不看BER吗?BER的标准好像是0.1%
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1.我现在再进行CC2540的BLE性能测试,我没有找到TI官方的测试数据,TI官方有没有CC2540的RF的测试数据,频偏 灵敏度 功率之类的
2.我在测试中发现initial Freq Drift=-26.8KHz,有点偏高,这可能是什么原因,也是晶振的匹配电容引起的吗
3.我看到BLE的灵敏度测试参数是PER,标准为30.8%,这个丢包率为什么可以允许这么高?BLE不看BER吗?BER的标准好像是0.1%
Hank Zhang 说:Hi Viki
1.测试文档我看过,这里面并没有测试结果的数据,可不可以提供有测试结果的数据,TI demo测试的数据也可以啊
TI的规格书就是最终的测试报告了。都是最终特征测试之后输出的统计结果。
BR.AZ