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用cc2642的simple central 例程,去扫描由cc2640构成的simple peripheral.
在2642的 SimpleCentral_taskFxn()中,会在GAP_DEVICE_INIT_DONE_EVENT事件后启动扫描,调用的函数为:
GapScan_enable(0, 150, 0);//one-shot scan (我也试过把150改成其它值或者持续扫描的0值,但那些方法扫描效果不太理想或者扫不到
等到它超时后,我会再次调用,经过多次调用后,一般需要10秒左右才能扫描到所到所有4个目标设备(基于名字进行比较, 扫描报告事件会报告很多其它无关设备)
然后会执行连接,服务发现,notify使能, 发送数据,接收数据,关闭连接,然后再循环.
现在我的主要问题是,经常会在扫描期间程序死机(但不确定是否在其它过程中死机),在debug模式下如果暂停程序执行,会发现如下图:
它死在不可调试的地方了(rom中的一个strlen处)
看起来程序遇到了异常:
的设备时出现问题),我建议检查是否出现内存问题。为此,我建议您参阅调试指南:https://dev.ti.com/tirex/content/simplelink_cc13xx_cc26xx_sdk_6_30_00_84/docs/ble5stack/ble_user_guide/html/ble-stack-5.x-guide/debugging-index.html
希望对您有所帮助