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CC2640R2F: 使用host test app例程的DTM测试,波形有异常,导致BQB测试fail

Part Number: CC2640R2F
Other Parts Discussed in Thread: CC2640

使用CC2640新SDK 5.30的host test app 例程,现象如下:

使用新SDK 5.30测试,输出功率设置为0dBm:

使用旧SDK测试,输出功率设置为0dBm(2018年,版本号不明)

使用LaunchPad测试,烧录SDK 5.30的host test app固件,输出功率设置为0dBm:

SDK 5.30在0dBm的发射功率下,波形会存在问题,有一个尖角,会导致BQB测试项fail。而旧版本固件则没有此现象。

请帮忙解决,谢谢。