1.1 问题背景
公司产品主机使用TI的RFID芯片TRF7970A,其功能用于读取主机配件的RFID标签序列号。其架构如下:
软件版本:基于《TRF7970AEVM》TI官网 2011年的代码移植。
1.2 问题现象
目前发现偶发读取芯片ID失败,故软件加了容错措施,如一次读取失败会重读,读的次数一共6次。
用近场探头检测其天线信号,发现读取失败的时候,芯片自带的电压VDD_RF ,VDD_A和VDD_X会有跌落。
电压 |
跌落幅度 |
VDD_RF |
1.5V |
VDD_A |
0.2V |
VDD_X |
0.8V |
附图正常识别的辐射信号,也会出现辐射间隙掉电的情况:
1.3 疑问
- 什么情况下会导致不识别标签现象,哪些参数可以去量化、筛选此现象??
- 什么原因会导致VDD_RF跌落?此跌落是否属于正常现象?
- 如何监控接收信号的强度?可以通过哪个寄存器去读取?