TI TINA 运放的稳定性分析

应该说， 能够完成部分的电路稳定性分析， 比如相位裕度分析就是电路稳定性的一个方面。

相位裕度 大概要大于多少度  才能使运放比较稳定的运行呢？

最好大于60度

这个是经验值吗？还是从理论得出来的值？

应该是经验值吧，目前没有见过是怎么计算出来的。至少要大于45度，最好60度以上（增益下降3db时候）

可以使用TINA的AC分析来分析相位裕度，如下图

这个相位余度是按照 增益在0db的时候计算的？还是不同的增益会有不同的相位余度呢？

不同增益有不桶的余度，要按照你具体的电路增益去仿真

参照datasheet  有些运放有一个开环增益的 相位余度图，我看了下LM358的datasheet 好像并没有发现有关于这个的Figure，

利用开环增益的相位余度，能大概估算在某一个增益下的相位余度吗？ 这个相位余度 是不是跟频率也有关系啊？

相位裕度是在某个增益下对应某一频率处的相位裕度

Open-Loop Gain and Phase vs Frequency是可以大致看一下某个增益下的相位裕度

看上图， 在55.7K的频率处的时候，它的相位才是-67.20度，相对于-180度来说，还有足够的相位余度啊 !但是这个时候增益变化了，增益为什么会变化呢？这种情况算是运放不稳定还是算是什么情况啊？

先谢谢Carter Liu 的热心解答

从你这个图 可以看得到  假如频率无线增大的话  也会导致运放不稳定输出啊？

跟频率是有关系的 ，还跟增益也有一定关系，如果是R to R输出的话 ，分析更加复杂 。还是使用软件仿真吧，做实验板进行测试。实践出珍珠啊

想掌握一定的理论啊，所以来这里请教各位

解决稳定性问题需要实践和经验，设计好电路以后 ，输入各种上升沿的阶跃信号来进行测试观察，是用示波器差看 ，是否出现不稳定的情况，还要考虑各种温度的情况下，因为器件的参数大多数还跟温度有关系。

TINA是一个很有价值而且很实用的工具，但是不能完全依靠TINA来检测电路的潜在稳定性，因为TINA不能考虑到运放实际应用时的一些参数。所以还是先根据理论 然后打样板，然后实用实际的工具来进行测试，测量 。实际产品的话   这样稳妥。

谢谢指教，还在学习当中，想先掌握下理论的东西

从实践中学习是最好的，申请点样片  自己打个样板测试下，仿真始终就是仿真 ，跟现实还是有点区别的。有时候仿真的数据都不大能信

仿真下都不能成立的话   实际的就更加成立不了了吧？

是不是保证相位余度在60度以上的话，运放就肯定不会出现振荡状态呢？

理论上  应该是不会出现

重新调了下参数， 感觉是输出的负载电容不能太大了，负载电容太大导致反应不过来 ，就出现过冲的现象

如下图 把输出电容负载 调小一点 就好多了。

运放不稳定的话可以在环路并一个小电容，这样增加一个零点，会增加相位的余度

在  【精品培训】TI 高精度实验室 里面的课程   运算放大器的稳定性分析的第一张 后面

就有讲解  地址http://www.deyisupport.com/question_answer/analog/amplifiers/f/52/t/93300.aspx

全部都下了  慢慢看

除了相位余度 ，还有什么别的指标是反应运放电路的稳定性的呢？

运放的带宽啊 ，信噪比啊  都会影响输出的精度，也算一种稳定度吧