CD4052损坏

TI的工程师好,我在测试一个4串锂电池保护板的电压采样方案。采用了CD4052将4串电池电压逐一传递给差分运放电路采样。该部分原理图如图所示。一开始如图测试,CD4052可以按照AB控制引脚的电平状态将X和Y口与响应的XOUT和YOUT接通,导通压降也正常。但是由于发现R65,R66,R71,R73,R76上的压降还是太大,所以我将这5个电阻全部替换为0值电阻。但是替换之后,再次接电池上电时,CD4052的通道映射就开始出现问题了,虽然依旧可以按照AB控制引脚的电平状态进行变化,但是通道接通后的电压不对。比如X0=12V,Y0=9V时,控制AB为00,而接通到XOUT=0.1V,YOUT=4V。AB为其他状态时X和Y的接通均有不同程度的输入输出差异太大的异常,唯有控制Y3=3V接到YOUT时和X1=3V接到XOUT时以及Y1=0V接到YOUT时(0V嘛,本来应该没差),输入输出接通相等。为了避免运放电路的干扰我将R51,R55和C20去掉后进行测试,问题依旧不变。似乎就是上边几个电池通道出现了异常。这之后我再将电阻换回1K但问题也依旧,请问这说明芯片上边几个通道已经损坏了吗?

  • 您好,将电阻从1K改为0ohm时,这时候流入CD4052的电流有多大? 比如X0=12V,Y0=9V时的电流有多大?
    CD4052的最大输入电流常温下只有100nA(18V供电条件下),整个操作温度范围内,最大输入电流也只有1uA
    .4052这款开关器件内部没有任何驱动电流,所以几乎是没有sink或source电流的能力。因此根据 您的描述 ,CD4052应该是已经损坏。
  • 最大承受电流应该是按这个表格来看吗?我理解的是10mA。如果是这样的话,当我把1K换成0值的时候,通道接通瞬间,由于电容C20的原因可能确实会导致通道电流瞬时增大很多,进而导致器件损坏,会是这样吗?麻烦您帮我分析一下呢

  • 您好,这个最大值指的是芯片的压力测试,不是芯片的功能性测试的结果,上述截图种的最下面的note(1)。

    参考的是Page7的电气参数表:

    我理解是您的应用种X0, Y0作为CD4052的输入端,通过控制端AB选择Xout,Yout和哪个通道(channel 0,1,2,3)导通。当电阻从1K降低到ohm时,是流入到CD4052的电流太大导致芯片损坏,从而Xout,Yout得不到正确的输出。 

    如果是C20导致瞬间电流很大造成的,可以尝试去掉C20 看是否能解决问题。