各位好：
在ADC3683的手册中提到NSD的典型值是-160dBFS/Hz，测试条件是“fIN = 1.1 MHz, AIN = – 20 dBFS”——我很疑惑，测噪声谱密度的话，为什么不是将输入端的P/N短接起来，而要输入一个功率为-20dBFS的信号？TI为什么会选择这种方式？这种方式与输入端P/N短接起来有何不同？
您好
感谢您仔细观察。
您的想法很好，但是电气特性表是给与客户一个参考同时展示IC的电气特性，并不是单纯电气特性展示。
您的方法可以更单纯的测相关参数，但是实际客户应用过程中的参考程度不高，因为实际应用大部分不会如此设计和应用。
官方如此测试除了给客户一个更贴近的考量外，同时展现了它的电气特性。
谢谢回复。
实际上我手头正好有一块ADC3683EVM demo板，并对其性能进行了一些基本的测试，包括SNR和NSD。
在测SNR时，利用RS的FSWP50输出65MHz作为参考时钟（并利用一个65MHz带通滤波器滤波），利用SMA100B输出频率为10MHz、功率为-1dBFS的信号，测得SNR约为80.5dB——较手册典型值差了3dB。
在测NSD时，将输入端P/N短接后，测得NSD在10MHz处约-153.8dBFS/Hz，较手册差了6dB。同时还测了利用SMA100B输出1.1MHz/-20dBFS信号时的在10MHz处的NSD，约-151dBFS/Hz，较手册差了8dB。
——我想问的是，要怎样才能测得尽可能接近手册上描述的指标？对于测试方法以及ADC数据的处理方法，TI是否有相关资料可以提供？
感谢您的回复！
如您所见，电气特性值给的是典型值，测试过程由于环境不同以及外界的干扰不同，只给出了典型值，实际过程中会存在有一定的偏差，如果您想完全相同的话，建议通过以下模型测试来达成您目标要求。
www.ti.com.cn/.../sbam400
谢谢
