这边采用ADS1255作为数据采集，由于芯片描述内部有buffer且输入阻抗为80M，因此输入信号未在外部加buffer，然后发现输入信号采用2个5M电阻分压测试电压不准，撤掉输入信号后用外部万用表直接测量AINCOM和AIN1之间电压，发现有1.2V左右的浮电（考虑万用表输入阻抗10M欧，这个浮电带载能力比较强）。 芯片配置为STATUS=0x02（使用buffer），MUX=0x18（AIN1为+，AINCOM为-），ADCON=0x00（放大倍数1），采样率采用5/100SPS均有浮电。AINCOM接地，AIN1原电路为输入信号采用2个5M分压，AIN1和AINCOM之间的RC滤波去掉和不去掉均有浮电。请问这个浮电是怎么来的，另外对于单端输入超过5V的信号，是否不能直接采用外部高阻值电阻分压后直接输入给AIN1而必须用外部高精度运放做buffer处理后输入？
您好，
这个输入阻抗是指的差分输入阻抗，80MΩ是指在 fCLKIN = 7.68MHz，数据速率是在≤ 50SPS情况下的值。
您是否验证了寄存器写入后可以正确读出来？我想确认下您的寄存器值已正确配置进去；
您可以附上您测量输入端有浮电时的电路图吗？特别是模拟输入端处的电路；
另外对于单端输入超过5V的信号，是否不能直接采用外部高阻值电阻分压后直接输入给AIN1而必须用外部高精度运放做buffer处理后输入？
输入超过5V的话，一个是ADC在buffer on时不满足模拟信号输入范围，buffer on时输入范围到 AVDD − 2.0V，另一个是输入阻抗低，如果信号源阻抗比较高的话，输入至ADC的模拟信号幅值会衰减。
电路图请参考这个，寄存器可以正确读出。如果去掉图中的R19，然后将R16改成0欧姆，此时测量AIN的电压值ADC输出的读数是正确的。如果R16和R19都断开，直接测量C30两端的电压就是1.2V左右，连接上R16和R19，AIN接采样电压，ADC输出结果也是偏差很大，AIN的电压对ADC值影响很小，主要是浮电电压起主要作用。C30尝试加大或者移除均有问题。
不是buffer的问题，在输入增加同相放大的运放再输入，测量输入信号电压和ADC值（只取20位），发现并没有线性的关系，应该是输入还是叠加了浮电。尝试更换输入滤波RC值或者参考电压RC值均无效，示波器抓取供电，参考电压和输入电压，没有发现异常纹波。
