ADS1220的TI官方开发板测量高精密电阻跳码（噪声）问题

Hello Winter,

请问你的外部参考是怎么连接的？用什么作为参考源呢？参考源的噪声对AD转换结果有直接的影响。

你的采集速度是稳定的吗？能否将你的采集结果进行FFT 变化，看看噪声是什么频率的？

ADCPro可以将转换结果进行FFT 变换，进入EVM -> File Reader选项里面可以载入转换结果；在C:\Program Files (x86)\ADCPro\plugins\evm\FileReader\Example Files文件夹有载入文件的格式，可以用excel进行编辑。

采集卡的分辨率要到0.1℃，测量范围是多少呢？

Br

Martin

谢谢 Matin的回答，

关于参考：我是在R3上焊接了一个0.1%精度的3.24K电阻，然后VREF+和ain0短路，VREF-和地短路，这样开发板的DA输出电流经过3.24K电阻就会产生电压了

关于噪声：从ADCPro的FFT结果看，低于1Hz的噪声最大。其余频率均匀分布

测量范围是-200~800℃。我是拿380Ω高精密电阻模拟热电阻。

Hi Winter,

能否将你的FFT 结果上传看看？

Br

Martin

Hi Winter,

能否将低频段的噪声放大看看是否有固定的频率，可以将block size设置大一点。

我不太确定我是否正确理解了你所描述的连接，能否将你的连接发个图上来？包括 被测电阻，输入R/C滤波器，参考电压及其对应的滤波器。

不过这边有个 TIPD， 其测试结果在未校准前可以达到0.096 欧姆，校准后可以达到0.0106度，里面有详细的设计文档，可以参考一下：

http://www.ti.com/tool/tipd120?keyMatch=3 wire rtd measurement&tisearch=Search-EN

Br

Martin

感谢您的答复与提示！

低频段我试过了，没有固定的频率，基本上是越接近0越大，而且从一整天的波形图来看，基本上和温度相关。

为了保证将引线的干扰降到最低，我的连接和最开始的时候有些变化，但是测试结果是一样的，接法是这样的：

DAC1由AIN3输出，与REF和AIN0短路。

DAC2由AIN2输出，与AIN1短路

被测电阻接到AIN0和AIN1之间

除了AIN0和AIN3之间我飞了一根线，其余都是用板上的双排针+跳线实现的接线。

多半是受到干扰了，50Hz，100Hz都要抑制，另外跟你的PCB布线也有关。速度不要开太快。

多半是受到干扰了，50Hz，100Hz都要抑制，另外跟你的PCB布线也有关。

将低频段的噪声放大看看是否有固定的频率，可以将block size设置大一点。