在使用ADS8866验证输入端短接REF电压，MCU获取输出读数时，出现两种结果：一是读数接近65535，二是读数接近32767。数据当然是接近65535更符合期望，但从示波器波形上来说，DOUT的波形有所差异，因此在CLK下降沿附近读数的话就会产生这种差别。
问题：
1、哪种是器件正常应该产生的波形？
2、MCU操作时序是否需要改进，则能达到正确识别？
波形情况描述：
说明1：波形图黄线：CONVST；紫线：SCLK；蓝线：DOUT
说明2：两块板子使用的同样的程序，器件对调后，波形跟随器件发生变化。有去掉过DOUT的10K上拉，结果没什么区别，这里可以用来观察DOUT释放情况。器件可能是2个批次的；
说明3：波形差别点：
a）测试板1，DOUT波形在CONVST下拉之后，马上就转换为高；而测试板2，DOUT波形在CONVST下拉之后，还故意被拉低并保持一段，因此它们的MSB位读数就是0和1的区别；
b）测试板1，在第16个SCLK下降沿就被释放掉，而测试板2，第16个SCLK下降沿后，还被刻意拉高并保持半个周期；
因此感觉测试板2中DOUT波形如果往左偏移一定时间，则MCU读出的数据就比较接近真实值，然而DOUT不是直接受MCU控制的，可以怎样修改操作时序；
说明4：已知的疑点1）SCLK的占空比，有点超过要求的±10%；2）SCLK没在CONVST下降沿之前就给出；3）器件批次可能有区别；
测试板1：
测试板2：
