异常现象：ADS5282 芯片通过单端SINE信号输入，FPGA读取数据感觉芯片正常工作。但是通过 LVDS TEST PATTERNS进行数据验证， FPGA读取数据偶尔基本正常。板子测试中，发现重启后FPGA读取数据偶尔正常，偶尔在正常波形上某时刻会叠加一个杂波噪声？例如 LVDS TEST PATTERNS设置阶梯波形输出，但是连续升高或下降阶梯波形变化下，偶尔在某阶梯出现一次特别高跳变，然后下阶波形就恢复了。
FPGA读取数据功能，我们通过信号发生器输出波形在FPGA端验证基本都是正常的。
验证方法：用信号发生器产生1MHz和250KHz的正弦波验证
想咨询下这种情况，有可能是什么原因？通过什么方式可以改善？
Hi， Vivian Gao
我的电路设计为多路模拟信号通过差分芯片（TITHS4552）生成ADC5282差分输入信号，进行ADC转换后进行FPGA并行读取。
上图差分信号生成电路采用TITHS4552IPWT芯片
ADC5882芯片偏置电路作为TITHS4552作为此VOCM1输入（common-mode voltage input ）。
信号输出信号进入G_AIN（VIN1- ），如果这样信号发生器测试还需要偏置电压吗？
测试中，发现差分电路中C1215和C1216在话，信号噪音很大，后来电气组将其去除。
上图ADC控制电路设计采用单端输入
我是做软件的，电气不是特别明白。我认为此电路差分芯片THS4552IPWT输出信号应该是DC耦合直接ADC5282芯片的，上面电路还需要增加AC耦合电路到ADC5282?
如果您计划进行直流耦合，则THS4552放大器电路不正确。请将此图片展示给您的硬件工程师，以便对电路进行适当的更新。
至于示波器捕获的正弦波噪声，这是由于ADC中的内部采样开关造成的。这个正弦波看起来很嘈杂，但ADC会及时对信号进行适当的采样。
从FPGA，你能把这些样本输入Matlab或其他软件程序来显示FFT或时域图吗？这也会有所帮助。
