ADS5282: ADS5282通过 LVDS TEST PATTERNS 模式输出波形有杂波现象?

Part Number: ADS5282

异常现象:ADS5282 芯片通过单端SINE信号输入,FPGA读取数据感觉芯片正常工作。但是通过 LVDS TEST PATTERNS进行数据验证, FPGA读取数据偶尔基本正常。板子测试中,发现重启后FPGA读取数据偶尔正常,偶尔在正常波形上某时刻会叠加一个杂波噪声?例如 LVDS TEST PATTERNS设置阶梯波形输出,但是连续升高或下降阶梯波形变化下,偶尔在某阶梯出现一次特别高跳变,然后下阶波形就恢复了。

FPGA读取数据功能,我们通过信号发生器输出波形在FPGA端验证基本都是正常的。

验证方法:用信号发生器产生1MHz和250KHz的正弦波验证

想咨询下这种情况,有可能是什么原因?通过什么方式可以改善?    

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