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lmh0030怎么进入test模式



使用单片机对其进行控制字写入,逻辑为

触发aclk 3次(控制字的命令时钟较慢,不到1M,应该识别没有问题,为了保险此处触发aclk6次)

对多功能io口进行功能设置

format寄存器写入1a,即1080p25

video info0寄存器写入20 使能vpg filter

test mode0寄存器写入36,(datasheet上说这应该是normally on 的设置)

test0写入34这是对输出模式的选择

然后把io bit7置1,使能tpg enable

然后几毫秒后对vclk加入74.25MHz的时钟

请问这样设置有什么问题吗,pass/~fail管脚一直没有输出高电平,说明没有进入test模式。(当然我每个寄存器写入时都是按时序来的,就是ad[9:8]00地址,触发一次aclk,ad[9:8]11数据,触发一次aclk。写入IO口的数据也是只要触发一次aclk就可以了吧。以上命令都是以us级的速度写入的,应该可以读取吧。)请问一下各位专家,我这样设置为什么进入不了test模式呢?

会不会是format0,test mode0的设置有所多余,或者其他edh、anc寄存器有需要设置的没有设置?

还是时钟加的有问题,datasheet上特别说明最好写完命令再加时钟,我延时了几ms,还有datasheet上提到了使用默认的标清模式时vclk不可超过27MHz,否则锁相环会locking up,这和我对数模式的设置有关吧,比如我输出高清信号是不是要加74.25MHz的vclk?还是说仍需要27MHz的?

菜鸟学生求教