Other Parts Discussed in Thread: TXB0304
测试环境说明如下：
1、输入通道CH B、输入信号频率500kHz、电压1.2V，输出通道CH A、电压1.8V；
2、OE跟VCCA接到一起，然后接到1.8V电源上；
3、1.2V、1.8V电源接到外部程控电源上；
4、测试波形如下：
测试环境说明如下：
1、输入通道CH B、输入信号频率500kHz、电压1.2V，输出通道CH A、电压1.8V；
2、OE跟VCCA接到一起，然后接到1.8V电源上；
3、1.2V、1.8V电源接到外部程控电源上；
4、测试波形如下：
TXB0304 EVM板仅是将TXB0304 的各管脚引至J1和J2接口上了，实际测试的时候可以在输出通道CH A接入示波器之前串连一个电阻。如下示意图所示：
给TXB0304 EVM的输入1.2V的SPI CLK信号，时钟频率26MHz，输出1.8V接到一个SPI的器件上，其中路径上串33欧姆电阻，波形仍有很大的过冲。波形如下：
应该是容性负载太大的缘故，可以看到如下datasheet 截图，容性负载CL越大，所支持的数据速率越小，不知道在您的应用中走线是不是比较长，建议尽可能缩短走线以减少容性负载。
同时还需注意PCB layout以下事项：
另外，驱动TXB0304 I/O的设备必须具有至少±3 mA的驱动强度。才能正常工作。