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[参考译文] TLV6002-Q1:TLV6002QDRQ1 芯片的平坦度容差

Guru**** 2480735 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1538566/tlv6002-q1-flatness-tolerance-of-tlv6002qdrq1-chip

器件型号:TLV6002-Q1

工具/软件:

亲爱的

客户使用的模型是采用 SOIC-8 封装的 TLV6002QDRQ1、如规格第 29 页所示。 如在电话上所述、请参阅下图中符合半圆形形状的共面尺寸信息。 工程师孙王帅, SMT 贴装导致针脚抬起,导致贴装质量差。

晶体管引线材料 31030452 的共面性超过限值、导致回流后焊接不良;缺陷率:9/8100 = 0.1%

使用 3D AOI 来比较早期和最近阶段(引脚厚度 150μm、共面容差<xmt-block1> 100μm</xmt-block>;根据 3D AOI 测量值、超过<xmt-block2> 250μm</xmt-block> 的高度被视为过高高度、其中一些材料在工艺中测得的高度超过<xmt-block3> 260μm</xmt-block>)、 100μm、发现 250μm发现最近 260μm最近的引脚高度数据不稳定。 请向供应商提供反馈、以分析并确认原因。

鉴于上述异常背景、客户希望我们能够提供以下信息:

1. TI 的工厂是否 100%监视共面性? 如何对其进行监控?

2.请确认共面性标准。

3、共面控制标准低于 0.1,请确认是否符合;

4、调查不同批次间平整度差异的原因?

非常感谢、

Arabella

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    您好 Arabella、

    我将在内部与您联系、因为其中一些可能不适合公共论坛。