[参考译文] INA128-HT：INA128-HT 数据表中的长期稳定性参数

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号： INA128-HT

您好、

我对 INA128-HT 数据表中电气特性的“长期稳定性“有一些疑问。

数据表电气特性部分中的长期稳定性指标的具体含义是什么？ µV、±此指示器标记的典型值为±1±3/G μ V/mo、是否意味着在典型条件下工作一个月后、INA128-HT 芯片的输出失调电压仅变化±1 µV 3/G μ V？或者、该指标的价值是在什么条件下通过测试获得的、有多少样本大小？

谢谢！期待您的答复。

0 admin 3 个月前

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尊敬的 Wenqi：

请允许我澄清一下。

这是否意味着在典型条件下工作一个月后、INA128-HT 芯片的输出失调电压仅变化 µV 1±3/G±？

执行一些操作。这实际上是以输入为基准的失调电压的长期稳定性漂移。 ±、运行 1 个月后、该器件的典型漂移为 1 µV 3/G μ V。

或者、这一指标的值是在什么条件下通过测试获得的、有多少样本大小？

它可能是在典型条件下进行测试的。至于样本大小、没有这个数字。您想知道样品大小有什么特殊原因吗？

此致、

Robert Clifton

0 admin 3 个月前

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查看相关信息后、我还有一个关于“典型测试条件“的问题。例如、在 INA128-HT 数据表中、长期稳定性指示器的典型测试条件为 25℃、即高温和低温？与此 µV 对应的温度是多少、例如“1±3/G‘±“

0 admin 3 个月前

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尊敬的 Wenqi：

长期稳定性的测试条件标记为温度范围、而不仅仅是 25°C。

此致、

Robert Clifton

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