在测试期间对 LM124可能施加的应力
：开放提供案例详细信息或评论：尊敬的 TI，此问题与在未供电的电路中将电流应用于未供电 LM124 IC (TI“基本器件型号”77043012A)的四个运算放大器部分中任何一个部分的输出的安全性有关。 特别是在使用飞探针机进行测试的电路中、LM124部分的输出一次会受到+4.5V 单个5ms 脉冲的影响、 或-4.5V (取决于电路配置)通过100欧姆的单个电阻器、首先 相对于连接 V-电源输入的接地轨、然后相对于 V+电源输入。 V+电源输入连接到12V (VCC)电源轨、由于电路板未通电、因此在这些测试期间电压为0V。 VCC 和接地轨之间存在21µF μ F 的电容。 因此、在每次测试的第一个瞬间、施加的脉冲似乎介于输出和 V+电源输入以及输出和 V-电源输入(接地)之间。 流经 电容器的电流的绝对值 将下降未知量、并且随着该电容充电、下降速率未知、具体取决于输出与 V+和 V-电源输入之间的内部路径特性。 假设芯片内的功能组件和寄生组件都将在本测试的5ms 应用中传导电流，最大功率级别为203mW，电流限制为45mA 和4.5V，特别是在有希望正确假定没有电压击穿的情况下， 似乎只有当这种功率耗散会在5ms 的时间内引起足以损坏芯片的温度上升时、才会发生损坏、这是因为芯片应力会导致芯片破裂、或者热效应会改变组件的特性。 似乎可以合理地怀疑芯片设计人员可能已经充分了解这种情况的"物理特性"、从而确信在这5ms 的应用时间内、这种耗散水平 将是一个数量级以下的数量级、在这个级别上、可能开始认为损害的可能性是可能的。 如果不能声明“这些测试不会产生压力”，我们就面临着更换数十个高价值航空电子组件中每一个组件上的设备的前景。 根据上述信息、此测试是否可以视为良性、尤其是 仅执行一次测试时？ 我们非常感谢你对这种情况的分析。 谢谢你。
