[参考译文] INA239：INA239

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https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1169921/ina239-ina239

器件型号：INA239

(1)当我使用 INA239EVM 测量电流时、设置如下：

如果转换时间位设置为50us、并且 Excel 中存储了100000个采样点、则需要大约5s。但我认为 Excel stores100000非常快、时间不到5s、因此我想问 INA239两个采样点之间的间隔是多长时间、以及如何在 Excel 中存储数据更长时间。

3 年多前

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2530330 points

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赵您好、

感谢您使用 TI 论坛。看一下您的设置，您已经为分流器、总线和温度启用了转换，因此每个转换将有100000个样本，并且实际运行时间应该是15s…… 我看到的第一个问题是 SW1没有设置。此设置需要与 EVM 上的物理硬件开关相匹配。如果在连接 EVM 的情况下重置 EVM 并刷新 GUI、则应自动填充该值。

如果您只需要分流转换、那么您可能需要禁用总线和温度值(即、将寄存器0x1从0xF000更改为0xA000)。

样本集之间的间隔是"样本之间的延迟"框中的值、该框将自动填充最短延迟以转换所有数据。您的"图"页面的屏幕截图使 EVM 看起来没有正确连接。尝试转到"File -> Program Devices..." 以确保您使用的是最新固件。要获得更长的数据、您可以增加"#Samples"框中的值。遗憾的是、这将基于 CPU 资源受到限制。如果您需要更多数据、则可能需要使用 EVM 的自定义接口、例如 LabView 或任何可读取批量数据和发送/接收串行命令、然后将数据直接流式传输到 Excel 的脚本工具。 EVM 用户指南中有一节介绍了如何在没有 GUI 的情况下与 EVM 进行通信。这是第4.2.4节"直接 EVM USB 通信"。

此致、

Mitch

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2530330 points

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根据您的说明、我可以正常运行。

我有如下问题：

(1)数据表显示了 ADC 的转换时间：50US-4120us、无论50us 是每次点采集所需的时间。如果#samples set 100000、

完成是否需要5秒？

(2)样本之间的延迟：0.05ms 为0.05，这意味着采样100000个点后，间隔为0.05，然后继续采样下一个100000个样本集。

(3)单击"保存图解"、数据将以100000点快速存储在 Excel 中、这远小于理论计算时间。这是因为 ADC 首先转换数据、然后读取数据并将其存储在 Excel 中吗？

(4)我想知道采样点的最大值

感谢您的慷慨答复

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2530330 points

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赵您好、

以下是我对您的问题的回答。我还建议查看 EVM 用户指南、因为它介绍了 GUI 的工作原理。

正确、如果您使用的是50µs μ s 转换时间、并且只有一个转换通道被启用(即、只有一个分流/总线/温度通道)、那么收集数据将需要5秒。

2. GUI 中样本之间的延迟设置是 GUI 通知 MCU 读取寄存器结果值的频率。因此、如果采样间隔为 0.05ms、采样间隔为100、000次、那么用数据填充图需要5秒。如果您希望数据在图中的转换速度和数据的可用速度一样快、那么让样本之间的延迟设置与器件转换时间相同是有意义的。这就是为什么有"自动延迟"功能。自动延迟将样本之间的延迟设置为与 INA 中的转换周期相同。如果您希望数据处于特定的时间间隔、例如100ms、甚至是1s、那么您实际上只需要更改"周期之间的延迟"按钮。 (对您的应用有用/有趣的任何内容)

3.当您单击"保存图解"按钮时、它会存储当前在图解中可见的数据。这就是数据快速保存的原因、因为数据已收集并显示在图中。

图中没有定义的最大值。这实际上取决于您的系统。如果尝试的样本太大，则计算机内存可能无法处理所有样本。如果您尝试读取的数据与样本数量相比过快、则视觉效果可能会滞后、但数据仍会显示。您实际上只需对您的特定设置进行实验、以了解它可以处理的最大值。

此致、

Mitch

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2530330 points

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非常感谢 Mitch`s 回答先前的问题。

目前，我已经很好地使用了该工具来测量功耗，我有两个问题需要与您一起提出。感谢您的慷慨答复

(1) ADC 的转换时间(50us-4120us)，我想知道不同的转换时间会影响什么？数据表中提到了与数字滤波器和有效分辨率比相关的内容、您对此问题有何解释。

(2) INA239有两个电压测量范围：163.84mV/±40.96mV。对于 s 系统，如果我使用 MCU 来控制40.96mv 至163.84mv 之间的 ADC，ADC 的响应时间是多少？因为如果电压测量值较大、如果开关时间过长、ADC 可能会损坏。(我知道我可以使用保护来推诿 ADC、我想知道 MCU 命令将转换时间从40.96mv 改为163.84mv)

感恩节快乐、期待您的回复。

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2530330 points

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赵您好、

以下是我对您问题的回答：

(1) INA239使用具有极高采样频率的 Δ-Σ ADC。在这种情况下、增加转换时间本质上会在 ADC 上获取更多样本并将它们一起取平均值、以获得更准确的结果。

(2)我们未指定在数据表中进行内部更改所需的确切时间、但是、当 ADC 处于±40.96mV 设置时、输入端的163.84mV 电压实际上不会损坏 ADC。相反、结果值将仅为最大值、您将无法获得精确的测量结果。根据数据表、在损坏器件之前可置于输入端的绝对最大差分电压为±40V：

此致、

Mitch

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2530330 points

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你(们)好、米奇

感谢您对上一个问题的解释。

(1)正如您所说的、增加转换时间基本上需要更多的样本才能获得更准确的结果、我能否知道我是否将转换时间设置为4120us、也就是它是多少个样本的平均值？ ( 也许，它与内部过滤算法有关？)

(2)用户指南显示 INA239evm 的接地端应连接到被测系统的接地端。

如果被测系统的总线电压非常高、我是否可以使用 IN-和 IN+来测试小电流、因为它能够承受的共模电压是85V。如下所示，我是否可以将 IN 连接到 EVM 的接地端，我想知道这个问题，以便您提出意见和建议。

此致

赵宜波

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2530330 points

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赵您好、

以下是我对您的问题的回答。

(1)数据表未将转换时间与 ADC 的特定采样数相关联。这部分是因为它不是设定数量的样本、而是设定时间内的样本。根据 ADC 采样频率的变化、采样的精确数量可能会略有差异。所有这些都是在内部处理的。

(2)是的、此器件可用于低侧。通常、如果总线电压为85V 或更低、则可能需要测量高侧、以免影响负载 GND。以下视频介绍了在高侧和低侧之间进行选择时的一些设计注意事项： https://training.ti.com/ti-precision-labs-current-sense-amplifiers-design-considerations

此致、

Mitch

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