[参考译文] LM339：旧器件正常工作、新器件不工作。

我的器件列表列出了 LM339D。

我 插入了原理图的 pdf、但我认为它不能正常工作。 如果没有 、可以方便地向您发送 PDF 吗？

输入：

P1-1：24V

P1-2：模拟输入在 FET 上创建 xx%占空比(高于9V = 100%、低于1V = 0%)

P1-3：接地

故障输出 连接到电磁阀。

e2e.ti.com/.../KC_5F00_A10732_5F00_00_5F00_Schematic_5F00_CDM.pdf

您好 Brian、

原理图。 我明白了。

我已要求质量工程师查看生产日期代码、并查看有无差异。

LM339是否已损坏？ 还是 Q4或 Q2？ 当输出发生故障时、它是否会开路、短路或介于两者之间的某处发生故障？ 是否存在物理损坏(烟雾？)？ IC 是否变热？

每当我们看到电磁阀时、我们都会立即考虑瞬态和电感反冲问题。 这些问题与布局非常相关、在简单的原理图中会丢失布局子图。 CR1需要恰好穿过螺线管的连接、当它们进入电路板时。 您不想将任何电路迹线与电磁阀瞬态电流共享。 这还包括 FET 的接地端。 电磁阀的大小(按电流)有多大？

我将得到一个示波器、并查看以接地为基准的 P2-1和 P2-2、并观察高电压瞬变、尤其是在电磁阀断电时、当产生反向电压时。 查看 MOSFET 源极和+24V 电源节点。 螺线管上还有一个值相当小的电容器、这会导致它与螺线管电感"共振"。

您好 Brian、

您能否发送一张"坏"器件封装顶部和底部的图片？ 他们的卷带或包装盒上是否有标签图片？

"坏"单位数据代码没有意义。 前两位数字是年份和月份、只能运行0-9和0-9以及 A-C 最后一个"H"数字也毫无意义。

"良好"的器件数据编码似乎正确。

您在哪里购买了"坏"器件？ "坏"器件上的标记是否看起来像"好"器件？ 相同颜色/样式字体？ 弯曲？

您好 Brian、

我们对"坏"装置非常怀疑。 我们希望您将其发送给您进行分析。

此时、由于可能的敏感信息、我想私下对待线程对话的好/坏部分。 我可以通过您的电子邮件地址与您联系吗？

至于故障模式：要使 Q2变热、它必须在"线性"区域中运行(不是很开启或关闭)。

Q2的 VGSon 最大值为4V、因此对于12V Q2应完全"导通"。

我认为它没有完全"打开"的唯一方式是两种方式：

比较器正在振荡-在高频(PWM)时快速开关。
U1输出饱和至700mV 左右、这可能会使 Q4以线性模式运行(不饱和)。

它也可以是这两者的组合...

您将迟滞反馈电阻器 R5连接到负输入端。 我假设您这样做是因为 MOSFET 输出"反相"。

但是、Q4也会增加反相、因此 Q2源的"输出"实际上与比较器输出同相。 U1变为低电平、从 Q4中拉出并将其关闭、然后栅极电压上升到12V、从而使 MOSFET 导通和源极接近0V。

因此、您实际上拥有的是负反馈。 如果添加集成电容器(或延迟)、则可以使整个环路呈线性。

此外、反相节点上还有一个电容器(C3)、这会导致运算放大器环路中出现振荡。

即使反馈电阻器进入正节点、电容器也会通过在反馈中添加延迟来否定正反馈。 这会软化正反馈所需的快速"快照"。 您将看到一个噪声"突发"、直到电容器充电。 我要移除 C3。

为了进行测试、我将移除 R5和 C3并查看过热问题是否仍然发生、并监控引脚13的输出电压以及 Q2栅极电压(包括示波器和 DMM)。

可以通过我的电子邮件直接联系我。

你得出的结论与我们得出的结论相同。 "不良"LM339会导致 FET 每次应切换一次时多次切换。 我可以进行您建议的更改和测试、但我们可以通过将输入设置为9V 以上来获得删除这些器件的相同结果。 在该输入端、LM339在其输入端只看到一次转换、因此 FET 导通并保持导通。 在此配置中(只要负载足够小、FET 能够以100%占空比运行)、电路板将正常运行。