团队、
我的客户正在将 OPA2227U 与 OPA2227UA 进行比较。 您能否解释一下如何正确计算器件随温度变化的失调电压?
-
在25°C 时的偏移量中加上温度相关的偏移量?
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将与温度相关的失调电压与已在温度范围[-40;+85]中给出的失调电压相加?
应如何解读[-40;+85°C]范围内的失调电压?
- 是否已经考虑了失调电压推导?
- 最大偏移是 @85°C 100µV 还是0.6µV *(85-25)+ 100µV μ V?
谢谢
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团队、
我的客户正在将 OPA2227U 与 OPA2227UA 进行比较。 您能否解释一下如何正确计算器件随温度变化的失调电压?
在25°C 时的偏移量中加上温度相关的偏移量?
将与温度相关的失调电压与已在温度范围[-40;+85]中给出的失调电压相加?
应如何解读[-40;+85°C]范围内的失调电压?
谢谢
尊敬的 Franziskus:
可以使用25°C 下的失调电压和温漂(dVOS/dT)来计算随温度变化的失调电压。 根据过程中的高斯分布、这两种规格都有一个典型值和一个最大值。
例如、要计算 U 封装对应65°时器件的典型 Vos、可使用以下公式:VosTyp85 = 5 + 0.1*(85-25)= 11µV μ V
当然、 Vos 和 Vos 漂移规格均为+/-、因此偏移极性可以为负或正。
请注意、表中的 Vos 漂移规格是整个温度范围内总漂移的线性近似值、上述计算应视为一个估算值或典型值、而不是一个精确值。 不同温度下的确切 Vos 受工艺变化和非线性 dVOS/dT 曲线的影响。
这就是为什么数据表指定了温度范围内的最大偏移。 此规格考虑了 25°C 下失调电压的过程分布、 失调漂移的过程分布以及漂移随温度的非线性。 此最大规格是该温度范围内最坏的情况、 而 上面的计算是对该温度范围内运行的估计值。
谢谢。
察赫
快速更正了一个错误:上面的示例计算是针对 典型器件的 Vos AT °μ A C、不是65。
最大偏移是否为 0.6µV 85°C 100µV 或@*(85-25)+ 100µV?
如规格表中所给出的那样、OPA2227U @85°C 的最大偏移为100µV μ V。
谢谢。
察赫
尊敬的 Franziskus:
关于此主题、有一个很好的应用手册:
请参阅第5.3节。
凯
在情况下 一个双曲线 失调电压较大 (例如|Vos|>1mV)、Vos 和失调电压的 R 晶体管输入级相互关联:漂移=~Vos (25)/298C
因此: Max_Vos[@65C]= max_Vos (25C)+ delta_T * max_Drift =+/-75uV+/-(65C-25C)/* 0.6uV/C =+/-99uV (线性加法)
在情况下 CMOS 或 JFET 晶体管输入级失调电压和失调电压漂移不相关、因此必须按照添加失调电压和漂移 向量 :
Max_Vos[@65C]=[(max_Vos (25C)^2 +(delta_T * max_Drift)^2]^0.5 =+/-(75^2)+(24^2)]^0.5 =+/-79uV
由于 OPA2227是双极输入运算放大器、初始偏移非常低、为+/-75uV、因此65C 时的 Vos 最大值将介于+/-79uV 和+/-99uV 之间。