[参考译文] PGA309：PGA309EVM-USB

作者：Joseph、

对于生产 PGA309校准、您应该使用数字万用表。  如果您查看 用户指南的第34页，其中介绍了如何执行此操作(请参阅 PGA309EVM 用户指南) 。  USB-DAQ EVM 上的 AtoD 用于概念验证而不是生产测试。  此外、这些 AtoD 在构建 USB-DAQ EVM 时进行校准、因此更换 AtoD 不会解决校准问题。  Multi-Cal 具有一个类似的 功能、可用于使用外部 DMM。  该软件设计为可接受34401 DMM。  它可以与其他驱动程序协同工作、但这需要一些驱动程序开发。  您有34401 DMM 吗？

我希望这对您有所帮助。  我想其他某个问题可能会导致 偏移、但您应该使用 DMM 进行生产校准。

此致、

艺术

请注意、我们使用 HP 34401 DMM 进行校准。 我只是在我们开始遇到校准系统问题时才提出这个问题。 请注意、我说过我让问题滑动显示开发套件。 该问题现已在使用 HP34401的校准系统上出现。 它一开始没有这样做。 请注意我的第一条消息中的第二段。

谢谢

作者：Joseph、

抱歉、我忘记了您使用的是带多校准功能的34401。  考虑到这一点、您有可能不会看到 PGA309的实际测量值出现问题。  下面是一些可能的情况：

1. 传感器不可重复性- 某些传感器具有压力或温度迟滞。  也就是说、当从低电平到高电平再到低电平向器件施加压力时、器件在恢复到低电平时不会返回到相同的输出。  温度转换时会发生相同的现象。   
2. 传感器中的温度梯度-在某些传感器模块中、电子设备和/或传感器具有导致梯度的自发热。  此梯度可能随时间和/或施加的功率或信号而变化。  在校准期间、如果 PGA 测得的温度未正确跟踪实际传感器温度、这会导致校准结果不可重复。
3. 一些电桥传感器将具有所需的均热时间、以考虑自发热。  多校准系统提供了浸泡时间。  这会将电源施加到所有传感器并使其达到平衡。  不同传感器所需的浸泡时间不同。   
4. 试验箱内的温度可能不稳定。
5. 噪声拾取可能会影响结果。
6. 如果您遇到一些不可重复性问题、可以通过几种方法来了解。
   1. 如果您使用已校准模块、反复施加不同的压力和温度、您会看到相同的结果或不同的结果。  如果结果始终一致、则可能不是由于 上述第1或2项、而是由于第3项。
   2. 您可以使用传感器仿真器 EVM 将激励信号应用于传感器、并在没有真实传感器的情况下测试传感器模块校准过程。  这样就消除了上面的第1、2和3项。   PGA309evm 包含一个传感器仿真器、但在使用完整的传感器模块时、老式的传感器仿真器更好：  https://www.ti.com/tool/SENSOREMULATOREVM#tech-docs 
7. PGA309和校准算法具有良好的成功历史记录。  当有类似于您提到的问题时、它通常与传感器可重复性问题有关。   
8. 我看着她的眼睛,就知道她在想什么。  从附件中的图片可以看出、您正在将 PGA309EVM 与手持 DMM 进行比较。  EVM 上的模数转换通常相当精确、但正如我提到的、确实进行了工厂校准。  
9. 注意：PGA309EVM 设计用于与关联的 PGA309测试板配合使用。  连接到实际的测试模块时、应拆除测试板、模块信号应直接连接到25引脚 D-sub 连接器。  您可能已经这么做了、但这是一个常见的问题、人们尝试在仍然连接测试板的情况下进行校准。
10. 我认为硬件可能已损坏、但 Multi-Cal 系统和多个 EVM 似乎都不太可能出现类似的问题。

建议/问题：  

1. 检查传感器模块在多个压力和温度下多次出现不良校准结果。  在一两天的时间内这样做。  您是否获得可重复性很高的结果？  如果是、可能不是传感器不可重复性。
2. 听起来您已成功校准了许多器件、但现在无法正常工作。  过程中有什么变化吗？  传感器是否已更改？
3. 传感器输出和漂移是多少。  这样我就能知道需要什么增益和偏移校正。  高增益和失调电压对微小变化更加敏感。

希望我能帮助您尽快解决这个问题。

此致、Art Kay