主题中讨论的其他器件: ESD441
我有一个使用 TLV7042DDFR 的窗口比较器设计、其中发生了显著的场故障、INA-和 VEE 之间的电阻发生显著变化。
在从返回的 PCBA 中移除的 TLV7042器件上、在 INA-和 VEE 之间测得的电阻为~1.5k 欧姆(两种测量极性)。
在未使用且良好的 TLV7042器件上、我在 VEE 到 INA-间测得~360k 欧姆、在 INA-到 VEE 间测得"OL"。
这种情况是否从至少360k 欧姆(正常部件)降至~1.5k 欧姆(损坏部件)表示存在任何特定部件应力 条件 (例如过压条件、过流条件、过热条件)的证据?
我的实现与 图8-3中所述的基本相同。 数据表中删除了基于 TLV704x 的窗口比较器。