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工具与软件:
以上根据详细规格文档(5962-06206)提供的零件号有两种型号:
1. 5962L06206 01. VZA、 LMP2012WGL-QMLV
2. 5962L06206 02. VZA、 LMP2012WGLL-QMLV
器件类型01在 HDR 测试条件下的 TID 耐受高达50krad。
器件类型02在 LDR 测试条件下的 TID 耐受高达50krad。
Q1:此器件分类是否意味着器件类型02不能承受 HDR 测试条件?
或器件类型02均在 HDR 和 LDR 中进行了测试、并且证明在这两种测试条件下均具有耐受性。
我知道 HDR 设备并不意味着也无需 ELDRS。 相反方向是否有效?
Q2:也就是说、是否有任何情况表明器件 可能无 ELDRS (在 LDR 条件下) 但易受 HDR 影响?
谢谢你。
尊敬的 Anastasios:
我不太熟悉这个辐射测试。 请给我一些时间、就您的问题与相关专家联系。 我会在得到回复后更新此帖子。
Anastasios
很抱歉解决此问题时出现延迟。 Philip 已经联系到我们的辐射专家,但不幸的是,他们在1月6日之前不在办公室。 菲利普将继续支持在那时。
卡盘
尊敬的 Anastasios:
我们的辐射专家回复了我们并做出了响应。 红色代表问题、黑色代表答案。
Q1:此器件分类是否意味着器件类型02不能承受 HDR 测试条件?
该器件按晶圆级别收集的 TID 数据。 02型器件意味着 TI 保证在 LDR 测试条件下、所有规格参数均不超过50Krad。
或器件类型02均在 HDR 和 LDR 中进行了测试、并且证明在这两种测试条件下均具有耐受性。
否 仅在 LDR 测试条件下测试、没有从同一晶圆收集 HDR 数据。
我知道 HDR 设备并不意味着也无需 ELDRS。 相反方向是否有效?
一般而言是、但根据 TM 1019第3.13.1节的规定、要求进行无 ELDRS 特性鉴定、从而判定无 ELDRS 器件并声称相反的器件有效。
Q2:也就是说、是否有任何情况表明器件 可能无 ELDRS (在 LDR 条件下) 但易受 HDR 影响?
取决于器件技术。 我无法在上面进行确认。