[参考译文] TMS570LS1224：考虑 MCU FMEDA 中的 ISO 26262-5：2018要求9.4.1.2和9.4.1.3

尊敬的 Lukas：

我不是 FMEDA 文档的完全专家、

但是、当我在文档中验证 FMEDA 文档总单点故障和总残余故障信息时。 此外、对于每个存储器、对于每个外设和存储器等、也会考虑残余故障和单点故障。 有关更多详细信息、请参阅 FMEDA 文档一次。 如果您有任何其他问题、请告诉我、我将咨询专家。

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此致、
Jagadish。

很抱歉、这对我没有帮助。

上面我发布的 ISO 26262-5要求规定、不得有一个单点故障或残余故障(每个故障模式的)超过故障率2级对应值的十分之一、这使 ASIL C 的 FIT 为0、1 (我忘记在上面的帖子中提及 ASIL)。

针对 MCU 的 Excel FMEDA 发布部分并未显示各个失效模式及其定量评估(特定于失效模式或失效模式分布的故障率、SPF 和 LF 的评估、安全机制和诊断覆盖率以及产生的单点/残余故障率)。 因此、我无法核实上述规定是否已获满足。

无论遇到上述问题、仍然存在一个问题、就 ISO 26262而言、这些要求是否与半导体元件相关。

感谢你的帮助。

此致、

Lukas

Jagadish、您能将此转发给 FMEDA 文档专家吗？

谢谢！