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器件型号：MCU-PLUS-SDK AM263PX-AM263PX 主题：SysConfig 中讨论的其他器件
工具/软件：
大家好：
我正在使用 TI AM263Px 设备和使用 Code Composer Studio 通信 XDS110 USB 调试探针 。 当我尝试测试连接时、出现以下错误：
SC_ERR_PATH_BROKEN (-233)
The JTAG IR and DR scan-paths cannot circulate bits, they may be broken.
An attempt to scan the JTAG scan-path has failed.
我的设置：
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已选择板/器件 : AM263Px (在目标配置中)
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相匹配 : Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe
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SDK 安装的 ：适用于 AM263Px 的 MCU+ SDK (v10.1.0.34)
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其中概述了 SysConfig : v1.23.1
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测量过孔 ：CCS"Test Connection"实用程序
我检查的内容：
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SDK 和电路板支持显示在 CCS 中正确安装(请参阅屏幕截图)。
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目标配置显示正确。
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电缆和探头的物理连接似乎正常。
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电路板已通电。
问题：
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是否有人在 AM263Px 上遇到此问题？
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电路板上是否有任何跳线、开关或硬件设置可能缺失？
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在 JTAG 工作之前、我是否需要刷写任何引导加载程序或预加载任何内容？
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我是否应该尝试较低的 SDK 版本？
屏幕截图：
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选择 AM263Px 时的目标配置。
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在 CCS 中安装 SDK 和 SysConfig。
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来自测试连接窗口的错误消息。
任何见解或建议都将非常感谢。 谢谢！
