主题中讨论的其他器件: TMDS570LS12HDK、 HALCOGEN
工具/软件:
您好、
我将评估板 tmds570ls12hdk 与 TMS570LS1227 微控制器配合使用。
我需要通过直接访问转换结果存储器(而不是 FIFO 队列)来从"结果"存储器中读取结果(ADC)。
很遗憾、我找不到正确的代码示例。
我使用了 halcogen 工具、但生成的代码没有这方面的函数。
在哪里可以找到有关 ADC 的更多示例?
请提供一些链接或源代码示例。
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工具/软件:
您好、
我将评估板 tmds570ls12hdk 与 TMS570LS1227 微控制器配合使用。
我需要通过直接访问转换结果存储器(而不是 FIFO 队列)来从"结果"存储器中读取结果(ADC)。
很遗憾、我找不到正确的代码示例。
我使用了 halcogen 工具、但生成的代码没有这方面的函数。
在哪里可以找到有关 ADC 的更多示例?
请提供一些链接或源代码示例。
尊敬的 Sebastian:
我认为这方面没有直接的例子、您能否参考下面的主题并自行尝试。
(+) TMS570LS1224:ADC FIFO 访问-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛
(+) TMS570LC4357:循环缓冲的 ADC 读取结果存储器配置-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛
(+) TMS570LC4357:ADC 使用增强型通道选择模式对通道序列进行分组-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛
请告诉我、如果你在执行方面遇到任何困难、我将进一步协助你。
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此致、
Jagadish。
我已解决该问题。 感谢您提供所有相关链接。
我有关于 Hercules 安全 MCU 演示的几个问题:
"Hercules 安全 MCU 演示"文件夹是否是唯一包含 TMS570LS1227源代码示例的位置、或者其他地方是否提供了其他示例文件?
关于转换结果读取(单次读取、一个通道、一个组):
a)将转换结果存储器用作 FIFO 队列时、会在 BUF0、BUF1等器件上重复观察到相同的结果。
b)直接访问转换结果存储器时、在不同偏移处的存储器中观察到相同的值。
您能否证实我的理解?
具体来说、假设模拟值快速变化、存储器中捕获的结果会发生相应变化是否正确?
此外、直接读取存储器中转换结果的组织结构本身是否为 FIFO 队列?
如果直接从存储器读取数据、是否可能以某种方式限制结果数量?
尊敬的 Sebastian:
"Hercules Safety MCU demos"文件夹是否是包含 TMS570LS1227源代码示例的唯一位置、或者其他地方是否提供了其他示例文件?
在上述常见问题解答中、我提到了如何访问与 Hercules 器件相关的所有示例。
[报价 userid="558003" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1500108/tms570ls1227-examples-for-adc-tms570ls1227-tmds570ls12hdk/5764862 #5764862"]关于转换结果读取(单次读取、一个通道、一个组):
a)将转换结果存储器用作 FIFO 队列时、会在 BUF0、BUF1等器件上重复观察到相同的结果。
b)直接访问转换结果存储器时、在不同偏移处的存储器中观察到相同的值。
您能否证实我的理解?
[/报价]是的、您的理解正确。
关于 FIFO、您可以参考以下主题一次:
(+) TMS570LS1224:ADC FIFO 访问-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛
关于存储器、您也是正确的、转换存储将以循环方法进行。 首先、它将所有配置通道的第一次迭代存储在存储器中、然后第二次迭代结果、这将持续进行、直到相应组的配置存储器填满。 填充组存储器后、它将再次从组的起始地址开始存储。
具体地说、假设模拟值快速变化、内存中捕获的结果会相应变化是正确的吗?
这取决于您选择的转换方法。 如果您选择单次转换模式、则所有配置的通道将 仅获得一次迭代的转换。 然后、我们需要再次触发才能进行第二次转换迭代。
而在连续模式下、转换会反复发生、直到我们强制停止转换。
如果直接从内存读取、是否可能以某种方式限制结果数量?
是的、您可以这样做。
请参阅 TRM 中的以下部分以了解相关信息:
。
根据上述理解、您可以在 HALCoGen 中的以下选项卡中进行配置:
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此致、
Jagadish。