[参考译文] TMS470MF06607：S4MF06607BSPZQQ1在 EOL 测试中失败

您好、

 您的 EOL 测试是什么？

这是生产测试的一部分吗？

什么确实失败了？

此装置是否已在现场？

 您的 EOL 测试是什么？  :- 线端测试是我们的最终测试阶段  

这是生产测试的一部分吗？  是的  

什么确实失败了？   :-  VCU 没有与我们的电子箱通信(无信号)

此装置是否已在现场？  :-没有它在客户的线测试结束时得到了缺陷  

[引述 userid="577181" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1514170/tms470mf06607-s4mf06607bspzqq1-failed-in-eol-test/5839291 #5839291"]

什么确实失败了？   :-  VCU 没有与我们的电子箱通信(无信号)

[/报价]

您好、

 使用哪种类型的通信(例如 UART、SPI 等)？

 您能否在已知良好的电路板与故障电路板上显示信号的探头捕获？

 在故障板上、您能否像在 GPIO 模式下那样切换这些引脚？

 可以进行 ABA 交换测试吗？ MCU 是否会出现故障？  

。  A-B-A  SWaP 方法是一种简单的交叉检查测试、可以确认观察到的问题不是系统性的。

• A-B-A  交换方法
  (1)拆除可疑组件( A )。
  (2)更换可疑组件( A )和已知良好的组件( B )、然后检查原主板现在是否正常工作。
  (3)安装可疑组件( A )连接到已知良好的板上、然后查看良好的板上是否出现相同的故障。