工具/软件：
您好：
我尝试通过电子保险丝 single-bit 错误来获得组 1 通道 40 电子保险丝控制器错误。
我分别执行以下步骤：
1.启用组 1 通道 40 中断
2.将 组 1 通道 40 的中断电平设置为高电平
3.设置 EFCBOUND 中的第 20 位“EFC 单一位错误“。
4.设置 EFCBOUND 中的第 16 位“单一位错误 OE“。
组 1 通道 40 不会发生中断。 但当我读取 EFCPINS 中的第 12 位“EFC Single-bit Error“时、它显示为 “1" ，“，表示、表示“检测到并纠正了 single-bit 错误“。
您能帮我解决这个问题吗？
谢谢你。
尊敬的 Samet：
我对延迟回复表示歉意、我休息了几天、所以我没有时间处理这个问题。
我们还提供用于电子保险丝自检的诊断库代码。
在此诊断库代码中、我们有一个名为“sl_Self Test_Status_.EFuse“的 API、在此 API 中、我们将触发 Efuse 错误、即 Group1.40、并验证测试。
因此、请使用此参考来创建 Efuse ESM 错误。
您可以通过以下链接下载诊断库代码：
SAFETI_DIAG_LIB 驱动程序或库|德州仪器 TI.com
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此致、
Jagadish。
尊敬的 Samet：
我创建了示例工程、可以正常使用：
如您所见、我收到的 Efuse 错误是 ESM1.40 和 ESM3.1 以及 ESM1.41 错误、如上所示。
请尝试使用以下项目进行一次测试：
e2e.ti.com/.../EFUSE_5F00_SELF_5F00_TEST_5F00_STUCK_5F00_AT_5F00_ZERO_5F00_LS3137.zip
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此致、
Jagadish。
尊敬的 Jagadish：
我已经生成了您生成的错误。 Stat4= 0x200 表示组 1.41、Stat3 = 0x2 表示组 3.1。 我尝试仅生成组 1 通道 40。 我需要得到 Stat4= 0x100、这意味着 组 1.40。 下面是我在参考手册中想要的内容。
尊敬的 Samet：
我没有看到任何负面的测试案例触发组 1.40,我只能看到积极的测试案例相关.
您可以看出、如果我们执行我在上述 pic 中分享的电子保险丝 ECC 逻辑自检程序、该过程不应该创建任何组 1.40 或组 1.41、因为我们在 ESM 错误状态寄存器位 4 到 0 中没有收到任何错误位。
如果有任何错误、则此测试用例应同时触发 1.40 和 1.41、如下表突出显示。 就像在我们的例子中没有错误,所以它不会触发任何错误。
所以,我想我们只能做 1.40 的正面测试,而不是负面测试。
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此致、
Jagadish。
