器件型号: AM2612
尊敬的 TI 专家:
当我使用 integrate_examples 测试 VTM 时、VTM 测试结果失败、程序将停止在“ while (sdl_tempExceedHot! = 1U); “。
我发现 TSENSE0_CNTL_MASK_HOT 位的位为 1、而不是 0、和 我尝试将其设置为 0、但它不起作用、 请帮助确认原因。
调试日志如下图所示:


此致
Bruvin
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器件型号: AM2612
尊敬的 TI 专家:
当我使用 integrate_examples 测试 VTM 时、VTM 测试结果失败、程序将停止在“ while (sdl_tempExceedHot! = 1U); “。
我发现 TSENSE0_CNTL_MASK_HOT 位的位为 1、而不是 0、和 我尝试将其设置为 0、但它不起作用、 请帮助确认原因。
调试日志如下图所示:


此致
Bruvin
尊敬的 Bruvin:
我最近在下面的主题中发现了 VTM 测试中的一个问题:
AM2612-Q1:AM261 Tsense 演示问题 — 基于 Arm 的微控制器论坛 — 基于 Arm 的微控制器 — TI E2E 支持论坛
您能先介绍一下这个吗?
--
此致、
Jagadish。
尊敬的 Bruvin:
[quote userid=“666468" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1612490/am2612-about-vtm-test/6215772 以上问题与我提出的问题不同。我分享了这个示例、因为在共享线程中应用修复后、在与您的设备和演示相同的设备上进行的 VTM 演示效果良好。
您所附的屏幕截图不清楚、能否准确说明您正在测试的演示?
是否仅为以下集成示例?

您正在测试哪个 MCU PLUS SDK 版本?
--
此致、
Jagadish。
尊敬的 Bruvin:
对延迟的回复表示歉意、我休息了几天。
我在 mcu_plus_sdk_am261x_11_00_00_29 中在系统上运行集成示例、但没有看到 VTM 示例有任何问题、该示例成功运行。

如果您的集成工程仍有问题、能否附上工程进行调试?
我发现 寄存器 0x50D80D18 无法更改、如文档 HSM_RUNTIME_firmware.html 所述、需要配置防火墙
在我的 VTM 示例中、我能够更改寄存器 0x50D80D18 中的值。 我不需要在此处配置防火墙设置。
--
此致、
Jagadish。