主题中讨论的其他器件:TMS570LS3137、 TMS570LS1224
您好!
多次出现某些错误后、我希望通过写入寄存器将 nERROR 引脚置为有效。 ESM 组中不存在错误。
每次出现错误时、我都会执行热复位、然后重试 检测错误的测试、在经过一定数量的错误计数后 、我会将 nERROR 置为有效。
如何在每次复位后跟踪错误计数?
是否有任何通用寄存器在复位后保存值?
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您好!
多次出现某些错误后、我希望通过写入寄存器将 nERROR 引脚置为有效。 ESM 组中不存在错误。
每次出现错误时、我都会执行热复位、然后重试 检测错误的测试、在经过一定数量的错误计数后 、我会将 nERROR 置为有效。
如何在每次复位后跟踪错误计数?
是否有任何通用寄存器在复位后保存值?
您好 Sagar、
没有不受复位影响的通用寄存器。 换言之、复位将清除器件中几乎所有的寄存器、少数状态寄存器不是用户可写的。
我可以建议您使用 VIM RAM 或 NHET RAM 等未使用的外设 RAM 来存储您的错误计数。 当然、您也可以将错误计数保存在系统 SRAM 中、但您需要注意的是、如果您的 SRAM 接受 PBIST 内存测试、则在复位后、数据将在启动时擦除。 在这种情况下、在开始 PBIST 测试之前、首先将错误计数数据从 SRAM 移动到某些外设 RAM、然后启动 PBIST、然后在内存测试之后恢复数据。
你(们)好
以下线程不建议在复位后使用 SRAM 数据:
请建议在复位后使用 SRAM 存储和使用数据是否是可靠的方法?
复位后对 SRAM 数据执行 CRC 是否会解决可靠性 问题?
您好、Charles、
是的、 可以写入0xFFF823FC。
但其思路是不使用为96个中断通道保留的 VIM RAM 区域、而是在该区域之后使用该区域(在 0xFFF8217D 至 0xFFF82400之间)。
我观察到我们无法在区域 0xFFF8217D 中写入 0xFFF82400。 该区域 是否为其他区域保留?
此外、请告知、 使用外设 RAM (VIM RAM)比使用 SRAM 有什么优势?
您好 Sagar、
我尝试在 CCS 中修改 VIM RAM 中的最后一些位置、但没有发现问题。

我建议 VIM RAM 的原因是、如果你在启动时为 SRAM 运行 PBIST、SRAM 可被擦除、尽管对于 VIM RAM 也是如此、如果你启用 PBIST 来在 VIM RAM 上运行内存测试。