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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1045122/tms570ls3137-selftest-of-sram
您好，SRAM 的加电诊断使用 TI 安全诊断库 SL_SelfTest_PBIST (寄存器 SL_SelfTestType testType、寄存器 UINT32 ramGroup、寄存器 UINT32 algoInfo)的接口、但如何在应用周期内诊断 SRAM？
您好、Xiaohong、
关于 PBIST、在启动时一次性执行证明了整个 SRAM 的完整性。 在应用运行期间、SECDED 接管为有效诊断并防止/通知 SRAM 的任何问题。
PBIST 是一种破坏性测试、您必须通过在 RAM 段之间移动数据来保留某些数据、以便在 PBIST 执行期间保留这些数据、但相对于资源/性能考虑而言、这可能是复杂且昂贵的。 因此、我不建议定期运行 PBIST。
用于 ECC 诊断的 SRAM 的覆盖率是多少？
请在 FMEDA 电子表格中找到覆盖范围：已启用 RAM1 (RAM 数据 ECC)、瞬态故障的覆盖范围为99.9%
