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[参考译文] AM2634-Q1：AM263x ADC 校准问题

admin
Guru**** 2529150 points
Other Parts Discussed in Thread: C2000WARE

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1136134/am2634-q1-am263x-adc-calibration-question

器件型号：AM2634-Q1
主题中讨论的其他器件：C2000WARE

您好、专家：

   我对如何执行 ADC 校准有疑问。 在 TRM 中、它仍然描述了使用 C2K API 的过程。  在 AM263x 的 MCU+ SDK 中找不到这些 API

问题1：校准信息存储在何处？ 它的结构是什么？

问题2：执行 ADC 校准的步骤是什么？  

问题3：我们将来是否会在 SDK 中支持校准？

此致

Andre

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    TI__Guru**** 2529150 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Andre、

    在 C2000中、ADC 的修整设置(位)存储在 OTP 位置(例如 F2838x 中的0x70128)、C2000Ware 提供的驱动程序功能(例如 ADC_setINLTRIM、ADC_setOFFSETTRIM)从 OTP 位置读取修整位并写入 ADC 修整寄存器

    在 AM263x 中、此步骤(将修整位复制到 ADC 修整寄存器)由硬件在上电序列期间执行。
    因此、在 AM263x MCU SDK 中、我们不需要/支持上述校准函数将修整位复制到 ADC 修整寄存器

    问题1：校准信息存储在何处？ 它的结构是什么？

    校准信息存储在 TOP_CTRL 寄存器中、并在加电期间复制到 ADC 寄存器 ADCINLTRIM1-6 (偏移量0xE0-0xF4)

    问题3：我们将来是否会在 SDK 中支持校准？

    AM263x 不需要上述校准功能、因此不打算在 SDK 中提供支持

    问题2：执行 ADC 校准的步骤是什么？  

    我将返回到这个-具体来说、是使用 CAL0、CAL1引脚进行校准

    谢谢

    Sanjeev

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    TI__Guru**** 2529150 points
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    Sanjeev、

       感谢您的回复、但还有更多问题？

    问题1：校准信息存储在何处？ 它的结构是什么？

    根据响应、校准信息存储在 TOP_CTRL 寄存器中？  寄存器能否存储永久数据？ 修整信息应存储在 EEPROM/FLASH 或其他地方、以便硬件或 RBL 可以在加电期间加载它。  我仍然不知道 AM263x 如何存储每个芯片的修整信息。  请提供更多信息吗？

     许多部分仍在使用 C2K 描述并误导客户。  我们何时可以向客户发布修订版 TRM？

    此致

    Andre  

      

  • 0
    TI__Guru**** 2529150 points
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    任何更新？？？？

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    TI__Guru**** 2529150 points
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    您好 Andre、

    ADC 上的 CAL 引脚更多地用于 ADC 的系统级校准/鉴定。 用户可以向 CAL 通道提供"已知"值、并在运行期间验证 ADC、这应通过代码而不是硬件本身来完成。 例如、假设为这些 ADC 提供了100mV 和3V 电压、并从5个 ADC 中记录。 根据这些值、可校准完整信号路径增益/偏移(包括外部放大器/缓冲器/滤波器)。 上电时加载修整默认值、无需干预。

    谢谢、

    Madhava

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    TI__Guru**** 2529150 points
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    马德哈瓦

        感谢您的答复、但我有疑问。 由于 Draft 仍使用 C2K 来描述 ADC 功能、 我想 AM263x ADC 将使用与 C2K 相同的修整过程。 在向客户交付 C2K 芯片之前、我们将在工厂对 ADC 进行修整、并将该修整数据存储到片上 OTP 中。 此修整数据基于每个芯片。  

    Q1： 每个 AM263x 芯片是否在工厂执行相同的修整流程？

    Q2：如果我们逐片修整 ADC、因为该修整数据需要永久存储、它存储在哪里？

    或者、我们不会在工厂执行每块芯片的修整流程？

    此致

    Andre   

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    TI__Guru**** 2529150 points
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    你好 Andre

    从硬件团队收集的信息中、

    “CAL 通道的用途更多用于 ADC 的系统级校准/鉴定。 在该字段中，客户可以向其中一个 CAL 通道提供‘已知’值，并在运行时验证 ADC。 它们还可以使用此功能校准整个通道增益/偏移等。 该校准在 C2K 包装程序之外、现在和预计将在客户软件中完成。 例如、它们可以提供100mV 的 cal0和3V 的 CAL1输入、并在运行时记录所有5个 ADC 输出。 基于此输出，他们可以校准整个信号路径的增益/偏移(包括外部驱动放大器/缓冲器/滤波器以及 ADC 的基准电压)。”

    关于 ADC 调整寄存器、正如专家们已经提到的：

    “我们目前对相同或不同的 ADC 不做任何调整。 基于芯片测量的 ADC 规格性能提供的默认未修整部件”

     我们已采取措施修改 TRM 中的 ADC 校准数据。 将提交错误以采取措施。 –供您参考的错误 ID - SITARAAPPS-2632

    谢谢、此致

    Sri Vidya

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    TI__Guru**** 2529150 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    SRI、

       发布于2022/10/07的更新的 TRM 仍使用错误的说明。 我是否可以知道修复 TRM 的目标日期？