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[参考译文] TMS570LC4357：ECC L2RAMW 测试

admin
Guru**** 2611705 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/770310/tms570lc4357-test-of-ecc-l2ramw

器件型号：TMS570LC4357

您好！

我想测试 L2RAMMW 的 ECC 机制。

我看到技术参考手册中描述的诊断测试程序错误地测试1或2位。
在这种情况下、将检查 RAMERRSTATUS[22、21、20、19、12、11、10、4]以进行测试。

通过其它步骤，是否可以测试 RAMERRSTATUS 寄存器中的以下位：
Bit0：CPUWE (CPU 写入单个错误)
BIT1：REME (读取 ECC 故障错误。 表示 SECDED 逻辑未能校正读-修改-写操作时的单个位错误)
BIT3：WEME (写 ECC 故障错误。 该位表示 SECDED 逻辑未能纠正单个位错误
在 CPU 写入操作期间)
Bit 5：CPUWDE (CPU 写入双位错误。 该位表示在写访问期间检测到 ECC 不可纠正(双位)错误
Bit7：RMWDE (读-修改-写双位错误。 该位表示 ECC 不可纠正(双位)错误
读取访问期间检测到的读修改写操作)

此致、

François μ A

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    TI__Guru**** 2611705 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 François、

    诊断测试将仅测试 RAMERRSTATUS[22、21、20、19、12、11、10、4]位列出的错误。 RAMERRSTATUS[7、5、3、1、0]将不会被诊断测试触发。
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    TI__Guru**** 2611705 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Wang、

    感谢您的回答、但我想知道是否可以在不使用诊断测试的情况下测试功能配置中的 ECC 机制来检查 RAMERRSTATUS[0、1、3、5、7]？
    例如、是否可以通过 ECC_DETEC_EN 位(RAMCTRL 寄存器)禁用 ECC 机制、修改 RAM 区域中的1或2位并激活 ECC_DETEC_EN？ 在本例中发生的情况。

    如果没有、您能告诉我诊断测试正确涵盖了 ECC (64位 RAM 数据和8位 ECC)的所有功能机制吗？

    此致、

    François μ A
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    TI__Guru**** 2611705 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 François、

    如果在正常的存储器访问操作中出现 CPU 写入单/双位错误、读取/写入 ECC 故障错误或读取-修改-写入错误、则将设置 RAMERRSTATUS 的位｛0、1、3、5、7]。 诊断测试涵盖 L2RAMW 中的比较逻辑和 SECDED。