Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN
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总的来说、很高兴获得 Halcogen 发布说明中列出的所有勘误表的一些细节。
在本例中、我查找以下方面的信息:
SDOCM00122496:FEE:HalCoGen FEE Corruption -块标头未被正确写入。
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Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN
总的来说、很高兴获得 Halcogen 发布说明中列出的所有勘误表的一些细节。
在本例中、我查找以下方面的信息:
SDOCM00122496:FEE:HalCoGen FEE Corruption -块标头未被正确写入。
您好 QJ、
我们在该领域拥有使用 HALCoGen v4.07.00中的 FEE 例程的产品。 我们很高兴听到 v4.07.01能够解决此问题、并且我们可以使用 HALCoGen v4.07.01的 FEE 例程创建更新的固件。 这涉及通常的复杂问题(需要验证更新的 FW、我们的一些产品需要安排现场服务呼叫来执行更新、一些客户在遇到设备故障之前无法发现更新的 FW 等)。 全面了解这一问题至关重要,因为我们正在制定解决这一问题的计划的具体细节。
我有一些具体的问题:
此问题是否仅在将数据从扇区0复制到扇区1时发生、还是在将数据从扇区1复制到扇区0时也发生?
是闪存_de_被破坏的问题(即、无效数据实际上被写入"EEPROM"、或者数据在需要时无法被写入、从而丢失)、 或者问题是否是闪存损坏的问题(即数据实际上已正确写入、但即使数据写入正确、基于 v4.07.00的固件读取该数据的尝试也会失败)?
您说故障并不总是发生;发生或不发生故障的条件是什么?
将使用基于 v4.07.00的 FEE 例程和基于 v4.07.01的 FEE 例程的单元更新是否可以解决问题、或者 FEE 是否可能已损坏、并且在将 FW 与基于 v4.07.01的 FEE 例程安装后需要重新编写?
-thx