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[参考译文] CCS/TM4C1294NCPDT:XDS100V3调试器的 TM4C1294问题:错误-233、#39;SC_ERR_PATH_BLOC#39;

Guru**** 2451240 points
Other Parts Discussed in Thread: UNIFLASH

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/623037/ccs-tm4c1294ncpdt-tm4c1294-problem-with-xds100v3-debugger-error--233-sc_err_path_broken

器件型号:TM4C1294NCPDT
主题中讨论的其他器件:UNIFLASH

工具/软件:Code Composer Studio

尊敬的 TI 用户:

在经过几周的成功测试和调试后、今天晚上我遇到了 TM4C1294和 XDS100V3调试器问题。
我有一个微控制器打开的 PCB、该 PCB 通过 ARM 20引脚连接到 XDS100V3。

我在 Code Composer Studio 中的配置如下:

如上所述、这种配置在过去几周一直在为我工作。 突然、在今天的测试中、我无法恢复到器件的 JTAG 连接。 我之前和之后都没有遇到任何问题、突然、它没有连接。 我没有怀疑有任何电子产品被销毁、因为我在测试密封盒内的产品。


最奇怪的是、微控制器正在按应有的方式运行程序。 但我无法调试新软件/将其闪存到其中。

我已经使用早期版本的 PCB 尝试了 XDS100V3、采用相同的配置、这是有效的。 因此、我很难相信问题是我的调试器探针。 我还很难相信微控制器会损坏、因为当我为器件供电时、微控制器会名义上运行程序。

当我通过 CCS 运行测试时、我收到的错误消息如下所示:

值为'-233'(0xffff17)。
标题为"SC_ERR_PATH_Broken (SC_ERR_PATH_COMPLETE")。

说明如下:
JTAG IR 和 DR 扫描路径不能循环位、它们可能会损坏。
尝试扫描 JTAG 扫描路径失败。
目标的 JTAG 扫描路径似乎已断开
卡在一个或卡在零的故障。

[结束:德州仪器 XDS100v3 USB 调试探针_0]

我已经阅读过有关该主题的一些文章、建议它在更改微控制器后起作用。 不过、这对我来说还不够、因为我想知道什么是错误、是否有人成功解决了错误、而不是损坏 PCB。

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    是否有可能在已成功刷写到器件中的程序的最后一个版本中禁用 JTAG 引脚? 如果是、您可以从 CCS7"片上闪存"窗口解锁器件。 它将擦除包括"用户寄存器"在内的整个闪存内容:

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    尊敬的 Bob:

    非常感谢您的评论。 我曾尝试通过 XDS100V3解锁微控制器、但它似乎不支持它? 我曾尝试过 LM Flasher、Uniflash 和 CCS。 只有通过 LM Flasher、它似乎可以工作、为我提供了成功的状态、但不会擦除/解锁微控制器。

    之后、我尝试在 TM4C1294XL 评估板上使用 ICDI 调试器、方法是在 X1上拆焊0欧姆电阻器并使用 U6调试器 OUT 探针。 通过 Uniflash 或 CCS 解锁 MCU 时需要执行此操作。 同样、没有成功。

    我尝试在旧版本的 PCB 上使用 ICDI 调试器、再次证明它可以正常工作。 因此、我可以再次假设连接已正确建立。
    我很想听到其他建议、因为如果我决定更换 MCU、我希望这个问题不会重复出现。

    我的 MCU 仍在运行其当前程序。 当将同一程序刷写到 TM4C1294XL 评估板时、对该板进行重新编程时不会出现任何问题。

    希望我清楚、其他人也能帮忙。  
    此致、

    Jesper

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    我测量了 TDI、TDO。 默认情况下、这些在我的故障电路板上为低电平。 只要运行了第一个调试启动、TDI 引脚就会变为高电平。 TDO 管脚保持低电平。
    在我的另一个板上、默认情况下、引脚都是高电平。 我想知道哪些因素会使 JTAG 引脚的行为如此? 接地/VCC/引脚之间似乎不短路、TDI 引脚可以在 GND/VCC 之间转换、但方式有点奇怪。
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    尊敬的每个人:
    我们没有找到解决这个奇怪问题的办法。 MCU 已更改、但现在没有问题。 我只是在等待下一次这种情况的发生。 希望看到有同样问题的人辩论这件事,因为我看到很多人都在谈论这件事,但最后总是没有明确的答案

    此致、
    Jesper
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    未声明的是 JTAG 探针和(可疑)电路板之间的连接接口(全部)。   这可能很重要-尤其是在您"等待下一次发生此意外事件"时。

    我们公司(经常)在靠近 JTAG 引脚的位置使用 MCU 的(内部)上拉电阻器(而不是(低得多的值、因此更合适)外部电阻器)时注意到这种情况。   此外、"JTAG 系列电阻器"的值较小、可为 MCU 提供保护。  (56 μ s 为我们的100Ω 工作)

    MCU 内部电阻器的"过高"值(可能)适用于实验室/要求不高的条件-但(始终)会受到信号舍入和反射的影响-最常出现在"现实世界"中。   随着电池/平板电脑的存在和辐射扩大、有害射频也可能成为因果关系。   较低值的上拉电阻(外部)可提供卓越的性能并可"保护!"

    您可以进一步考虑使用著名的 JTAG 探头(J-Link)、该探头证明"不受供应商约束"(欢迎所有 ARM MCU 品牌)、其"成功历史"要比单个供应商提供的(较少)器件大得多...  (即那些长期(几乎)不在 JTAG 探头业务范围内的人员-或具有此类"重点"专业知识和资源...)

    Fi/I "分享您对"神秘修复"的不确定性(甚至可能是恐惧)-以及它提供"长期"MCU 健康/舒适性的能力。   此处的提示证明在解决此类缺陷方面"更加积极"...  (只需更换"坏的"MCU"(似乎)即可"忽略"原因-因此、您可以代表此帖子...)